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天津三星LED产品外观的光学检测系统的性能改善

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-8页
第一章 绪论第8-15页
   ·LED 产品概述第8-9页
   ·AOI 技术发展现况及分析第9-11页
   ·课题研究的来源及意义第11-12页
   ·本文主要工作及结构安排第12-15页
     ·本文主要工作第12-13页
     ·论文结构第13-15页
第二章 光学外观检测设备的系统结构第15-33页
   ·设备整体结构第15-19页
     ·外部硬件结构第15-16页
     ·通信板卡结构第16页
     ·传送供料部结构第16-17页
     ·检测平台第17-18页
     ·Trigger 位置第18页
     ·产品分类装置第18-19页
   ·光学照明系统第19-21页
     ·光源对检测的影响第19页
     ·光源的照射方式及优缺点第19-20页
     ·照明光源选型第20-21页
   ·CCD 选型第21-24页
     ·CCD 成像原理第21页
     ·CCD 传感器尺寸第21-22页
     ·CCD 分类第22-24页
   ·镜头第24-27页
     ·镜头的功能第24页
     ·成像系统影响第24-27页
     ·镜头的选型第27页
   ·震动传送器第27-28页
     ·震动传送器介绍第27-28页
     ·震动传送器工作原理第28页
   ·运动控制模块第28-32页
     ·运动控制系统工作流程第29页
     ·伺服电机控制卡第29-30页
     ·信号 I/O 卡 PCI-175623第30页
     ·气动电磁阀第30-32页
   ·本章小结第32-33页
第三章 LED 产品光学检测的相关理论第33-40页
   ·图像检测算法第33-34页
     ·外观检测原理第33页
     ·边缘检测算法第33-34页
   ·阈值分割处理第34-36页
     ·灰度阈值分割第34-35页
     ·最大熵阈值分割第35-36页
   ·噪声干扰去除方法第36-37页
     ·中值滤波定义第36-37页
     ·中值滤波原理第37页
   ·图像处理模块功能第37-39页
     ·图像处理卡第38-39页
     ·光源控制卡第39页
   ·本章小结第39-40页
第四章 LED 图像检测方法第40-57页
   ·制品外观检测原理第40-44页
     ·背景区分第40-42页
     ·设定 CCD 检测区域第42-44页
   ·检测物体定位第44-45页
     ·Trigger 位置设定方法第44页
     ·Trigger 工作流程第44-45页
   ·噪声干扰第45-47页
   ·LED 图像检测流程图第47-48页
   ·逻辑检测方法第48页
   ·产品缺陷检测方法第48-56页
     ·异物检测方法第48-51页
     ·电极检测方法第51-56页
   ·本章小结第56-57页
第五章 AOI 设备 LED 外观检测系统的改善第57-83页
   ·硬件方面改善第57-59页
     ·照明光源的改善第57-58页
     ·CCD 的设定改善第58-59页
   ·软件方面改善第59-80页
     ·胶面检测的改善第59-63页
     ·自主添加检测区域改善第63-65页
     ·系统检测区域屏蔽功能改善第65-67页
     ·检测区域方向识别系统改善第67-72页
     ·边界检测的改善第72-73页
     ·不规则制品检测功能改善第73-76页
     ·电极高度异常检测的改善第76-77页
     ·电极宽度异常检测的改善第77-78页
     ·电极位置检测的改善第78-80页
   ·LED 产品外观检测系统的改善效果第80-82页
   ·本章小结第82-83页
第六章 总结与展望第83-85页
   ·课题创新点第83页
   ·向后改善方向第83-84页
   ·光学外观检测技术展望第84-85页
参考文献第85-87页
附录第87-91页
致谢第91页

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