天津三星LED产品外观的光学检测系统的性能改善
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-15页 |
·LED 产品概述 | 第8-9页 |
·AOI 技术发展现况及分析 | 第9-11页 |
·课题研究的来源及意义 | 第11-12页 |
·本文主要工作及结构安排 | 第12-15页 |
·本文主要工作 | 第12-13页 |
·论文结构 | 第13-15页 |
第二章 光学外观检测设备的系统结构 | 第15-33页 |
·设备整体结构 | 第15-19页 |
·外部硬件结构 | 第15-16页 |
·通信板卡结构 | 第16页 |
·传送供料部结构 | 第16-17页 |
·检测平台 | 第17-18页 |
·Trigger 位置 | 第18页 |
·产品分类装置 | 第18-19页 |
·光学照明系统 | 第19-21页 |
·光源对检测的影响 | 第19页 |
·光源的照射方式及优缺点 | 第19-20页 |
·照明光源选型 | 第20-21页 |
·CCD 选型 | 第21-24页 |
·CCD 成像原理 | 第21页 |
·CCD 传感器尺寸 | 第21-22页 |
·CCD 分类 | 第22-24页 |
·镜头 | 第24-27页 |
·镜头的功能 | 第24页 |
·成像系统影响 | 第24-27页 |
·镜头的选型 | 第27页 |
·震动传送器 | 第27-28页 |
·震动传送器介绍 | 第27-28页 |
·震动传送器工作原理 | 第28页 |
·运动控制模块 | 第28-32页 |
·运动控制系统工作流程 | 第29页 |
·伺服电机控制卡 | 第29-30页 |
·信号 I/O 卡 PCI-175623 | 第30页 |
·气动电磁阀 | 第30-32页 |
·本章小结 | 第32-33页 |
第三章 LED 产品光学检测的相关理论 | 第33-40页 |
·图像检测算法 | 第33-34页 |
·外观检测原理 | 第33页 |
·边缘检测算法 | 第33-34页 |
·阈值分割处理 | 第34-36页 |
·灰度阈值分割 | 第34-35页 |
·最大熵阈值分割 | 第35-36页 |
·噪声干扰去除方法 | 第36-37页 |
·中值滤波定义 | 第36-37页 |
·中值滤波原理 | 第37页 |
·图像处理模块功能 | 第37-39页 |
·图像处理卡 | 第38-39页 |
·光源控制卡 | 第39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第四章 LED 图像检测方法 | 第40-57页 |
·制品外观检测原理 | 第40-44页 |
·背景区分 | 第40-42页 |
·设定 CCD 检测区域 | 第42-44页 |
·检测物体定位 | 第44-45页 |
·Trigger 位置设定方法 | 第44页 |
·Trigger 工作流程 | 第44-45页 |
·噪声干扰 | 第45-47页 |
·LED 图像检测流程图 | 第47-48页 |
·逻辑检测方法 | 第48页 |
·产品缺陷检测方法 | 第48-56页 |
·异物检测方法 | 第48-51页 |
·电极检测方法 | 第51-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 AOI 设备 LED 外观检测系统的改善 | 第57-83页 |
·硬件方面改善 | 第57-59页 |
·照明光源的改善 | 第57-58页 |
·CCD 的设定改善 | 第58-59页 |
·软件方面改善 | 第59-80页 |
·胶面检测的改善 | 第59-63页 |
·自主添加检测区域改善 | 第63-65页 |
·系统检测区域屏蔽功能改善 | 第65-67页 |
·检测区域方向识别系统改善 | 第67-72页 |
·边界检测的改善 | 第72-73页 |
·不规则制品检测功能改善 | 第73-76页 |
·电极高度异常检测的改善 | 第76-77页 |
·电极宽度异常检测的改善 | 第77-78页 |
·电极位置检测的改善 | 第78-80页 |
·LED 产品外观检测系统的改善效果 | 第80-82页 |
·本章小结 | 第82-83页 |
第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
·课题创新点 | 第83页 |
·向后改善方向 | 第83-84页 |
·光学外观检测技术展望 | 第84-85页 |
参考文献 | 第85-87页 |
附录 | 第87-91页 |
致谢 | 第91页 |