中文摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
第一章 :研究的理论基础及意义 | 第9-13页 |
·放射性探测的基本原理及方法 | 第9-11页 |
·放射性衰变的基本规律 | 第9页 |
·放射性探测的基本方法 | 第9-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-13页 |
第二章 :time-to-count测量方法的基本原理 | 第13-19页 |
·放射性衰变的统计分布及强度估计 | 第13-15页 |
·核衰变数的统计分布 | 第13-14页 |
·对辐射强度的估计 | 第14-15页 |
·G-M计数管进行辐射测量的传统方法的基本理论 | 第15-17页 |
·time-to-count方法测量的基本原理 | 第17-19页 |
第三章 :time-to-count辐射测量仪硬件电路设计 | 第19-36页 |
·硬件电路总体概述 | 第19-21页 |
·STC8952单片机 | 第21-23页 |
·STC8952单片机概述 | 第21-22页 |
·主要功能特点 | 第22-23页 |
·各单元电路 | 第23-36页 |
·STC89C52单片机最小系统 | 第23-24页 |
·高压与低压电源电路 | 第24-26页 |
·GM计数管工作电路 | 第26-27页 |
·触发计时电路 | 第27-29页 |
·实时时钟电路 | 第29-30页 |
·扩展EEPROM电路 | 第30-31页 |
·剂量超限报警电路 | 第31-32页 |
·LCD接口电路 | 第32-34页 |
·功能键电路 | 第34页 |
·RS232通讯接口电路 | 第34-36页 |
第四章 :time-To-Count辐射测量仪软件设计 | 第36-49页 |
·软件的开发语言及开发环境 | 第36-37页 |
·软件系统组成 | 第37-49页 |
·软件主程序 | 第37-39页 |
·各部分子程序 | 第39-49页 |
第五章 :辐射仪的测试、测量及数据分析 | 第49-61页 |
·对MOS管开通与关断性能的测试 | 第49-50页 |
·对辐射仪计时性能的测试 | 第50页 |
·参考辐射强度的确定 | 第50-53页 |
·实验数据的分析 | 第53-59页 |
·辐射仪存在不足及改进方面的思考 | 第59-61页 |
总结 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
附录 | 第66-74页 |