| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·研究背景及意义 | 第9页 |
| ·不确定度的定义 | 第9-10页 |
| ·不确定度的研究的发展历史 | 第10-11页 |
| ·本章小结 | 第11-12页 |
| 第二章 不确定度的基本理论 | 第12-18页 |
| ·不确定度与误差 | 第12-13页 |
| ·误差相关理论 | 第12-13页 |
| ·不确定度与误差相对差别 | 第13页 |
| ·不确定度的基本理论 | 第13-15页 |
| ·A类不确定度 | 第13-14页 |
| ·B类不确定度 | 第14页 |
| ·关于测量不确定度的A类评定和B类评定 | 第14-15页 |
| ·合成标准不确定度 | 第15页 |
| ·不确定度的主要来源 | 第15-16页 |
| ·不确定度的评定步骤 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 自动测试系统概论 | 第18-23页 |
| ·自动测试系统的定义和组成 | 第18-19页 |
| ·自动测试设备 | 第18-19页 |
| ·测试程序集(TPS) | 第19页 |
| ·TPS软件开发工具 | 第19页 |
| ·自动测试系统的关键技术 | 第19-21页 |
| ·总线技术 | 第19-20页 |
| ·自动测试系统软件控制技术 | 第20页 |
| ·故障诊断技术 | 第20-21页 |
| ·自动测试系统的特征和发展 | 第21-22页 |
| ·自动测试系统的发展 | 第21页 |
| ·自动测试系统的发展 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第四章 TD-LTE自动测试系统的不确定度分析理论及实例应用 | 第23-28页 |
| ·TD-LTE自动测试系统简介 | 第23页 |
| ·相关影响因素的不确定度分析 | 第23-24页 |
| ·相关误差分量分析 | 第24-27页 |
| ·频率响应引起的不确定度 | 第24页 |
| ·失配误差引起的不确定度 | 第24-26页 |
| ·衰减器误差引起的不确定度 | 第26页 |
| ·外部温度环境等引入的不确定度 | 第26页 |
| ·链路校准过程中引入的不确定度 | 第26页 |
| ·不确定度分量计算 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第五章 TD-LTE自动测试系统的不确定度 | 第28-67页 |
| ·TD-LTE自动测试系统 | 第28-29页 |
| ·TD-LTE自动测试系统的组成 | 第28页 |
| ·TD-LTE自动测试系统主要测试仪表简介 | 第28-29页 |
| ·TD-LTE自动测试系统发射机指标要求 | 第29-39页 |
| ·发射功率 | 第30-31页 |
| ·输出功率动态范围 | 第31-34页 |
| ·输出误差 | 第34-36页 |
| ·输出RF频谱辐射 | 第36-39页 |
| ·TD-LTE自动测试系统的测量模型 | 第39页 |
| ·不确定度分析 | 第39-42页 |
| ·数学模型 | 第39-41页 |
| ·相关不确定度分量分析 | 第41-42页 |
| ·不确定度报告 | 第42-56页 |
| ·UE最大输出功率 | 第42-44页 |
| ·最大功率降低 | 第44-45页 |
| ·额外的功率降低 | 第45页 |
| ·配置发射功率 | 第45-46页 |
| ·最小输出功率 | 第46-48页 |
| ·发射机关功率 | 第48-49页 |
| ·绝对功率容限 | 第49-50页 |
| ·相对功率容限 | 第50-51页 |
| ·累计功率容限 | 第51-52页 |
| ·频率误差 | 第52-53页 |
| ·矢量误差值(EVM) | 第53页 |
| ·占用带宽 | 第53-55页 |
| ·杂散辐射 | 第55-56页 |
| ·不确定度报告 | 第56-66页 |
| ·不确定度计算结果分析 | 第66页 |
| ·本章总结 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69页 |