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C频段小步进低相噪频率综合器设计

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
第一章 绪论第8-12页
   ·频率合成技术的发展概况第8-9页
   ·国内外发展现状与趋势第9页
   ·项目的背景和意义第9-10页
   ·主要工作和成果第10-11页
   ·论文结构安排第11-12页
第二章 基本理论第12-23页
   ·锁相环(PLL)技术第12-16页
     ·鉴相器(PD)第12-13页
     ·环路滤波器(LF)第13-15页
     ·压控振荡器(VCO:Voltage Controlled Osillator)第15-16页
   ·直接数字频率合成技术第16-20页
     ·DDS的组成元素及功能第16-17页
     ·DDS的相位噪声和杂散第17-20页
       ·时钟抖动对合成信号的影响第17-18页
       ·相位截断对合成信号频谱的影响第18-19页
       ·数/模变换器非线性对合成信号频谱的影响第19-20页
   ·正交调制器原理与分析第20-23页
     ·基带信号的上变频调制第20-21页
     ·正交调制器的误差分析第21-23页
第三章 C频段小步进低相噪频率综合器的方案设计第23-35页
   ·项目指标要求第23页
   ·系统原理方案及工作原理第23-27页
     ·系统功能结构框图第23-26页
     ·单元功能说明及接口第26-27页
   ·系统主要技术指标分析与计算第27-35页
     ·系统相噪特性分析第27-32页
     ·系统杂散抑制分析第32-35页
第四章 C频段小步进低相噪频率综合器的实现第35-49页
   ·DDS时钟单元的实现第35-37页
   ·参考源单元的实现第37-38页
   ·本振单元的实现第38-40页
   ·DDS及正交混频模块实现第40-45页
     ·DDS的选择和实现第40-41页
     ·正交混频器的选择与实现第41-43页
     ·ARM的选型和软件实现第43-45页
   ·放大器的选择和实现第45页
   ·4倍频跟踪环模块的实现第45-47页
   ·输出带通滤波器的实现第47-48页
   ·结构设计第48-49页
第五章 系统的调试与测试第49-56页
   ·系统调试工具第49页
   ·专用控制台第49页
   ·调试步骤第49-53页
     ·调试流程第50页
     ·DDS时钟单元、参考源单元、本振单元的调试第50-52页
     ·ARM+DDS的调试第52页
     ·正交混频器的调试第52页
     ·放大器的调试第52-53页
     ·整件联合调试第53页
   ·测试结果第53-55页
   ·测试结论第55-56页
第六章 总结第56-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-61页
攻读硕士学位期间参加的学术交流和取得的研究成果第61页

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