跳频电台综合测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-13页 |
| ·研究的背景 | 第8-9页 |
| ·国内外技术动态 | 第9-10页 |
| ·国外研究现状 | 第9-10页 |
| ·国内研究现状 | 第10页 |
| ·论文的主要研究工作和贡献 | 第10-11页 |
| ·论文的组织结构 | 第11-13页 |
| 第二章 跳频电台综合测试方案概述 | 第13-20页 |
| ·综合测试仪研制目标和主要功能 | 第13页 |
| ·综合测试仪硬件总体方案 | 第13-16页 |
| ·综合测试仪软件总体方案 | 第16-19页 |
| ·综合测试仪涉及的关键技术 | 第19-20页 |
| 第三章 测量跳频参数的调制域分析技术 | 第20-39页 |
| ·调制域分析的概念 | 第20-21页 |
| ·调制域分析的重要应用 | 第21-22页 |
| ·调制域分析涉及的各种测量原理 | 第22-25页 |
| ·频率～时间特性测量原理 | 第22-23页 |
| ·时间间隔～时间特性测量原理 | 第23-24页 |
| ·相位～时间特性测量原理 | 第24-25页 |
| ·调制域分析技术中需要解决的关键问题 | 第25-26页 |
| ·调制域分析关键技术的传统解决方法 | 第26-31页 |
| ·传统型零空闲时间计数器技术 | 第26-28页 |
| ·传统型测量误差补偿技术——模拟内插法 | 第28-29页 |
| ·传统型测量误差补偿技术——数字游标法 | 第29-30页 |
| ·传统型高速采样技术 | 第30-31页 |
| ·调制域分析关键技术的改进解决方法 | 第31-36页 |
| ·改进型零空闲时间计数器技术 | 第31-33页 |
| ·改进型测量误差补偿技术——延迟内插法 | 第33-34页 |
| ·改进型测量误差补偿技术——时标移相法 | 第34-36页 |
| ·调制域分析实现方案 | 第36-39页 |
| ·FPGA电路及关键指标论证 | 第36-37页 |
| ·放大整形电路 | 第37-38页 |
| ·FIFO型号选择 | 第38-39页 |
| 第四章 跳频信号发生技术 | 第39-48页 |
| ·频率合成技术的发展趋势 | 第39-40页 |
| ·PLL和DDS频率合成的优劣分析 | 第40-43页 |
| ·锁相环(PLL)频率合成 | 第40-41页 |
| ·直接数字频率合成(DDS) | 第41-43页 |
| ·跳频信号发生实现方案 | 第43-48页 |
| ·跳频信号发生硬件实现 | 第43-45页 |
| ·DDS选择 | 第45-46页 |
| ·跳频图案产生 | 第46-48页 |
| 第五章 射频信号接收技术 | 第48-50页 |
| ·射频信号接收功能要求 | 第48页 |
| ·射频信号接收方案及实现 | 第48-50页 |
| 第六章 多体制调制解调技术 | 第50-59页 |
| ·软件无线电的概念 | 第50-52页 |
| ·软件无线电的定义及特点 | 第50-51页 |
| ·软件无线电的基本结构 | 第51-52页 |
| ·软件无线电调制算法介绍 | 第52-55页 |
| ·软件无线电解调算法介绍 | 第55-56页 |
| ·多体制调制解调方案实现 | 第56-59页 |
| 第七章 其他技术简介 | 第59-67页 |
| ·电磁兼容和抗干扰技术 | 第59-60页 |
| ·任意波发生技术 | 第60-62页 |
| ·数字化音频分析技术 | 第62-64页 |
| ·误码测试技术 | 第64-67页 |
| 第八章 跳频电台综合测试仪的测试应用 | 第67-81页 |
| ·跳频电台综合测试仪介绍 | 第67-76页 |
| ·测试仪功能简介 | 第67页 |
| ·部分测试界面介绍 | 第67-76页 |
| ·电台关键指标测试举例 | 第76-81页 |
| ·模拟调频灵敏度测试 | 第76-77页 |
| ·音频谐波失真系数测试 | 第77页 |
| ·调制灵敏度测试 | 第77-78页 |
| ·剩余调频测试 | 第78-79页 |
| ·电台跳发性能指标测试 | 第79页 |
| ·电台跳收性能指标测试 | 第79-81页 |
| 第九章 总结 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
