石墨烯导电薄膜的可控制备及导电性能研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-30页 |
| ·石墨烯概述 | 第10-21页 |
| ·石墨烯的发展 | 第10-12页 |
| ·石墨烯的结构及性质 | 第12-16页 |
| ·石墨烯的制备方法 | 第16-19页 |
| ·石墨烯及其衍生物的应用前景 | 第19-21页 |
| ·石墨烯导电薄膜概述 | 第21-28页 |
| ·石墨烯及其衍生物薄膜的制备方法 | 第21-26页 |
| ·石墨烯导电薄膜的应用前景 | 第26-28页 |
| ·本课题研究内容和目的 | 第28-30页 |
| ·目前存在的问题和研究趋势 | 第28页 |
| ·研究内容 | 第28-30页 |
| 第二章 实验部分 | 第30-40页 |
| ·实验所需原料 | 第30-31页 |
| ·仪器设备 | 第31页 |
| ·制备氧化石墨烯薄膜的实验步骤 | 第31-34页 |
| ·制备流程图 | 第31-32页 |
| ·氧化石墨的制备 | 第32-33页 |
| ·氧化石墨烯薄膜的组装 | 第33-34页 |
| ·成膜原理 | 第34页 |
| ·分析和测试方法 | 第34-40页 |
| ·场发射扫描电子显微镜(FESEM) | 第34-35页 |
| ·透射电子显微镜(TEM) | 第35页 |
| ·X-射线衍射分析(XRD) | 第35-36页 |
| ·紫外可见光谱分析(UV-vis) | 第36页 |
| ·拉曼光谱分析(Raman) | 第36-37页 |
| ·外吸收光谱分析(FT-IR) | 第37-38页 |
| ·Mikro Test G6自动测厚仪 | 第38页 |
| ·电阻性能分析 | 第38-40页 |
| 第三章 氧化石墨烯薄膜的结构表征 | 第40-50页 |
| ·GO薄膜的微观形貌分析 | 第40-44页 |
| ·GO薄膜的X射线衍射分析 | 第44-45页 |
| ·GO薄膜的紫外及拉曼图谱分析 | 第45-47页 |
| ·GO薄膜的红外光谱分析 | 第47-48页 |
| ·GO薄膜的透光性分析 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 石墨烯导电薄膜的导电性能研究 | 第50-64页 |
| ·石墨烯导电薄膜的制备 | 第50-51页 |
| ·薄膜热处理前后的结构对比分析 | 第51-60页 |
| ·热处理前后样品形貌对比 | 第51-52页 |
| ·热处理前后拉曼光谱分析 | 第52-58页 |
| ·热处理前后红外吸收光谱分析 | 第58-60页 |
| ·热处理后薄膜的导电性能分析 | 第60-63页 |
| ·小结 | 第63-64页 |
| 第五章 结论及展望 | 第64-66页 |
| ·结论 | 第64-65页 |
| ·展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 攻读硕士期间发表的论文及研究成果 | 第77页 |
