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黄铜矿半导体砷化锗镉晶体的生长和密度泛函理论研究

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第1章 绪论第9-17页
   ·课题背景第9-11页
     ·砷化锗镉晶体的特点第9-10页
     ·砷化锗镉晶体的结构第10-11页
     ·砷化锗镉晶体的吸收缺陷第11页
   ·水平梯度冷凝法第11-13页
   ·密度泛函理论第13-15页
   ·CASTAP软件简介第15-16页
   ·课题研究的主要内容第16-17页
第2章 砷化锗镉多晶的合成及单晶的生长第17-26页
   ·砷化锗镉多晶的合成第17-21页
     ·原料和主要合成设备第17-18页
     ·多晶的合成工艺第18-20页
     ·多晶砷化锗镉XRD分析第20-21页
   ·单晶的生长第21-25页
     ·几种生长单晶方法的比较第21-22页
     ·水平梯度法生长单晶的设备第22页
     ·水平梯度法生长单晶的工艺参数第22-23页
     ·单晶的生长过程第23-24页
     ·单晶吸收分析第24-25页
   ·本章小结第25-26页
第3章 纯砷化锗镉晶体的密度泛函研究第26-34页
   ·建立模型第26-27页
   ·结构优化第27-29页
     ·能量计算结果第27-28页
     ·晶格参数的优化第28-29页
     ·优化后原子坐标第29页
   ·纯砷化锗镉晶体的电子能带结构和态密度第29-32页
   ·CdGeAS_2 晶体的光学性质第32-33页
   ·本章小结第33-34页
第4章 砷空位CdGeAS_2晶体的密度泛函研究第34-42页
   ·建立模型第34页
   ·结构优化第34-37页
     ·能量优化第35-36页
     ·晶格参数的优化第36页
     ·优化后的原子坐标第36-37页
   ·砷空位CdGeAS_2晶体的电子能带结构和态密度第37-40页
   ·砷空位-CdGeAS_2 晶体的光学性质第40-41页
   ·本章小结第41-42页
第5章 锗占砷位CdGeAS_2晶体的密度泛函研究第42-50页
   ·建立模型第42-43页
   ·结构优化第43-45页
     ·能量优化的结果第43-44页
     ·晶格参数的优化第44页
     ·优化各个原子坐标第44-45页
   ·锗占砷位-CdGeAS_2晶体的电子能带结构和态密度第45-48页
   ·锗占砷位-砷化锗镉的光学性质第48-49页
   ·本章小结第49-50页
第6章 砷化锗镉晶体的缺陷研究第50-56页
   ·红外吸收第50-51页
   ·缺陷分析第51-53页
     ·吸收缺陷类型的确定第51-52页
     ·缺陷数量的确定第52-53页
   ·铬离子掺杂补偿受体缺陷第53-55页
     ·铬离子掺杂砷化锗镉晶体模型第53页
     ·掺铬后的能带和态密度第53-55页
   ·本章小结第55-56页
结论第56-58页
参考文献第58-62页
攻读学位期间发表的学术论文第62-63页
哈尔滨工业大学硕士学位论文原创性声明第63页
哈尔滨工业大学硕士学位论文使用授权书第63页
哈尔滨工业大学硕士学位涉密论文管理第63-64页
致谢第64页

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