基于FPGA的非制冷红外焦平面阵列非均匀性校正技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-16页 |
| ·红外成像系统 | 第9-10页 |
| ·非制冷红外焦平面阵列的发展现状 | 第10-15页 |
| ·热释电探测器 | 第10-11页 |
| ·测辐射热计 | 第11-12页 |
| ·SOI 二极管UFPA 探测器 | 第12页 |
| ·新型热机械非制冷红外焦平面阵列 | 第12-13页 |
| ·基于光学读出的热电光非制冷红外探测器 | 第13页 |
| ·新型热光非制冷红外探测器 | 第13-14页 |
| ·发展趋势 | 第14-15页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第15-16页 |
| 第二章 非均匀性的产生原因及校正方法 | 第16-26页 |
| ·非均匀性产生的原因 | 第16-18页 |
| ·非均匀性的校正方法 | 第18-25页 |
| ·基于红外辐射参考源标定的校正方法 | 第18-21页 |
| ·基于场景自适应的校正方法 | 第21-25页 |
| ·小结 | 第25-26页 |
| 第三章 非均匀性校正电路介绍 | 第26-35页 |
| ·常见的非均匀性校正电路 | 第26-29页 |
| ·基于DSP 的校正系统 | 第26-27页 |
| ·DSP+FPGA 校正电路 | 第27-28页 |
| ·基于FPGA 的校正电路 | 第28-29页 |
| ·FPGA 工作原理 | 第29-32页 |
| ·FPGA 设计流程 | 第32-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第四章 一种多点校正法的新方案 | 第35-44页 |
| ·多点校正法原理 | 第35-36页 |
| ·辐照度判断的新方法 | 第36-40页 |
| ·无效元的判定 | 第40-41页 |
| ·无效元的补偿 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第五章 基于FPGA 的非均匀性校正电路 | 第44-56页 |
| ·无效单元补偿模块 | 第45-47页 |
| ·数学运算模块 | 第47-53页 |
| ·参数选择模块 | 第53-54页 |
| ·输出模块 | 第54页 |
| ·小结 | 第54-56页 |
| 第六章 结论 | 第56-57页 |
| ·本文工作总结 | 第56页 |
| ·需要进一步研究的问题 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 附录A 多点校正模块原理图 | 第61-62页 |
| 附录 B 部分电路 Verilog 代码 | 第62-69页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第69-70页 |
