| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·LED显示屏驱动IC的分类 | 第9-11页 |
| ·论文章节安排 | 第11-12页 |
| 第二章 具体电路设计 | 第12-44页 |
| ·设计思想 | 第12-14页 |
| ·ASIC的分类 | 第12-13页 |
| ·ASIC的设计流程 | 第13-14页 |
| ·本课题的功能分析 | 第14-21页 |
| ·本课题的设计指标 | 第15-16页 |
| ·本课题的功能框图 | 第16-21页 |
| ·数字部分电路的设计 | 第21-34页 |
| ·反相器的设计 | 第21-23页 |
| ·二输入与非门的设计 | 第23-24页 |
| ·三输入与非门的设计 | 第24-25页 |
| ·施密特触发器的设计 | 第25-29页 |
| ·基本D触发器的设计 | 第29-31页 |
| ·带使能端的D触发器的设计 | 第31-32页 |
| ·数字部分的总电路图 | 第32-34页 |
| ·模拟部分电路的设计 | 第34-44页 |
| ·基准电压源的电路设计 | 第34-38页 |
| ·差分放大电路的电路设计 | 第38-39页 |
| ·过热保护电路的设计 | 第39-41页 |
| ·恒流驱动电路的设计 | 第41-44页 |
| 第三章 芯片的工艺与版图设计 | 第44-64页 |
| ·Bi-CMOS工艺简介 | 第44-46页 |
| ·本设计采用的部分设计规则 | 第46-52页 |
| ·采用的Bi-CMOS工艺介绍 | 第46-48页 |
| ·设计规则简介 | 第48-51页 |
| ·设计规则输入 | 第51-52页 |
| ·数字部分的版图设计 | 第52-54页 |
| ·基本MOS管的版图设计 | 第52-53页 |
| ·反相器、与非门、施密特触发器、D触发器等的版图设计 | 第53-54页 |
| ·数字部分的整体版图设计 | 第54页 |
| ·模拟部分的版图设计 | 第54-57页 |
| ·基本晶体管、电容、电阻等的版图设计 | 第54-56页 |
| ·基准电压源、差分放大器等部分的版图设计 | 第56-57页 |
| ·整体版图的位置分配与设计结果 | 第57-59页 |
| ·设计规则检查与版图验证 | 第59-64页 |
| ·设计规则检查(DRC) | 第59-63页 |
| ·版图验证(LVS) | 第63-64页 |
| 第四章 可靠性技术与可测性技术的应用 | 第64-78页 |
| ·可靠性技术 | 第64-73页 |
| ·可靠性技术简介 | 第64-65页 |
| ·电路设计中提离可靠性的措施 | 第65-69页 |
| ·版图设计中提高可靠性措施 | 第69-72页 |
| ·工艺设计中提高可靠性的措施 | 第72-73页 |
| ·可测性技术 | 第73-78页 |
| ·可测性技术简介 | 第73-74页 |
| ·可测试性设计的准则 | 第74页 |
| ·可测试性的关键技术 | 第74-75页 |
| ·可测试性技术的发展趋势 | 第75-78页 |
| 第五章 总结与展望 | 第78-80页 |
| ·总结 | 第78-79页 |
| ·展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85页 |