| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-8页 |
| 1 引言 | 第8-18页 |
| ·技术迅速发展所带来的挑战 | 第8-9页 |
| ·嵌入式存储器测试的挑战 | 第9-13页 |
| ·MBIST 概述 | 第11-12页 |
| ·MBIST 架构 | 第12-13页 |
| ·MBIST 设计的挑战 | 第13-16页 |
| ·全速(at-speed)测试 | 第13-15页 |
| ·全速诊断 | 第15-16页 |
| ·嵌入式存储器的修复技术 | 第16页 |
| ·嵌入式存储器测试和修复技术的未来趋势 | 第16-18页 |
| 2 MBIST 设计实例（前端设计） | 第18-39页 |
| ·系统设计 | 第18-27页 |
| ·IO 引脚规划 | 第24-26页 |
| ·时钟结构设计 | 第26-27页 |
| ·测试算法设计 | 第27-36页 |
| ·BIST 有限状态机优化实例－——March LA 算法 | 第28-32页 |
| ·BIST 有限状态机优化实例二——Walk Row 算法 | 第32-34页 |
| ·BIST 有限状态机优化实例三——X stripe 算法 | 第34-36页 |
| ·诊断模块设计 | 第36-39页 |
| 3 MBIST 设计实例（后端设计） | 第39-42页 |
| ·芯片布局 Floorplan | 第39-41页 |
| ·速度、面积、功率性能分析 | 第41-42页 |
| 4 结论 | 第42-44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
| 致谢 | 第46-47页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第47-50页 |
| 上海交通大学学位论文答辩决议书 | 第50页 |
