| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题背景和研究意义 | 第10-13页 |
| ·Qt/Embedded | 第11页 |
| ·OpenGUI | 第11-12页 |
| ·MiniGUI | 第12页 |
| ·Nano-X | 第12-13页 |
| ·国内外发展趋势 | 第13-14页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第14-15页 |
| 第二章 反走样算法分析 | 第15-29页 |
| ·走样原因及现象 | 第15-16页 |
| ·反走样方法 | 第16-21页 |
| ·增加分辨率 | 第16-17页 |
| ·区域采样 | 第17-19页 |
| ·过滤技术 | 第19-20页 |
| ·点取样 | 第20页 |
| ·像素移相 | 第20-21页 |
| ·一种基于Wu 反走样的快速反走样算法 | 第21-27页 |
| ·Wu 反走样算法 | 第21-22页 |
| ·快速反走样算法原理 | 第22-27页 |
| ·快速反走样算法的实现 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 Nano-X 系统分析及绘图算法改进 | 第29-51页 |
| ·Nano-X 系统（采用Nano-X API）分析 | 第30-45页 |
| ·Nano-X 系统流程 | 第30-32页 |
| ·Nano-X 分层模块 | 第32-45页 |
| ·Nano-X 图形引擎算法优化 | 第45-50页 |
| ·直线快速反走样实现 | 第46-47页 |
| ·圆形快速反走样实现 | 第47-49页 |
| ·快速反走样算法分析比较 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 基于Nano-X 的图形库设计 | 第51-65页 |
| ·图形库概述 | 第51-53页 |
| ·图形库总体设计 | 第53-54页 |
| ·图形库接口层 | 第54-55页 |
| ·图形库图形API 层 | 第55-62页 |
| ·图形库解析层 | 第62-64页 |
| ·数据库 | 第64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 系统应用 | 第65-75页 |
| ·硬件平台 | 第65-67页 |
| ·嵌入式系统软件平台 | 第67-73页 |
| ·Bootloader | 第67-69页 |
| ·嵌入式操作系统 | 第69-71页 |
| ·图形用户界面 | 第71-73页 |
| ·系统应用 | 第73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 第六章 总结和展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 附录一： 图形库头文件gauge.h | 第81-92页 |
| 在校期间的研究成果 | 第92-93页 |