白光干涉法保偏光纤偏振耦合测试及其应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-33页 |
| ·保偏光纤概述 | 第10-16页 |
| ·保偏光纤与偏振耦合 | 第11-12页 |
| ·保偏光纤的主要参数 | 第12-14页 |
| ·保偏光纤的发展与现状 | 第14-16页 |
| ·偏振耦合测试及其应用 | 第16-26页 |
| ·偏振时域反射法（POTDR） | 第16-17页 |
| ·迈克耳逊白光干涉仪法 | 第17-18页 |
| ·Mach-Zehnder 白光干涉仪法 | 第18-19页 |
| ·调频载波FMCW 法 | 第19-20页 |
| ·锁模光纤环激光器法 | 第20-21页 |
| ·基于Kerr 效应的耦合点位置检测 | 第21-22页 |
| ·合成光学相干函数法 | 第22-24页 |
| ·波长扫描干涉法 | 第24-25页 |
| ·各方法比较 | 第25页 |
| ·国内偏振耦合测试研究现状 | 第25-26页 |
| ·白光干涉测量技术 | 第26-31页 |
| ·白光干涉与单色光干涉 | 第26-27页 |
| ·白光干涉仪的基本结构 | 第27-28页 |
| ·白光干涉信号处理技术 | 第28-31页 |
| ·白光干涉的应用 | 第31页 |
| ·本论文的研究基础和主要工作 | 第31-33页 |
| 第二章 偏振耦合与白光干涉法偏振耦合测试原理 | 第33-64页 |
| ·保偏光纤模式耦合理论 | 第33-39页 |
| ·模式耦合理论 | 第33-37页 |
| ·光纤双折射的产生 | 第37-39页 |
| ·保偏光纤偏振耦合模型 | 第39-44页 |
| ·偏振耦合模型 | 第39-40页 |
| ·横向应力作用下的偏振耦合 | 第40-44页 |
| ·白光干涉法偏振耦合测试原理 | 第44-50页 |
| ·测试原理 | 第44-45页 |
| ·单耦合点干涉分析 | 第45-47页 |
| ·耦合点位置和耦合强度的计算 | 第47-48页 |
| ·测试范围和空间分辨率 | 第48-50页 |
| ·影响偏振耦合测试精度的若干理论问题的研究 | 第50-63页 |
| ·保偏光纤激发偏振模式的影响 | 第50-53页 |
| ·检偏器投射角度的影响 | 第53-57页 |
| ·迈克耳逊干涉仪两臂反射镜夹角的影响 | 第57-60页 |
| ·多普勒（Doppler）频移的影响 | 第60-61页 |
| ·耦合强度测试精度分析 | 第61-63页 |
| 本章小结 | 第63-64页 |
| 第三章 偏振耦合测试仪器化研究 | 第64-112页 |
| ·偏振耦合测试仪的总体设计 | 第64-65页 |
| ·光学系统设计 | 第65-76页 |
| ·光源系统 | 第65-68页 |
| ·偏振调整光学系统 | 第68-76页 |
| ·迈克耳逊干涉仪光路部分 | 第76页 |
| ·机械系统设计 | 第76-80页 |
| ·机械各部分简介 | 第77-78页 |
| ·电动线性位移平台 | 第78-80页 |
| ·电路系统设计 | 第80-91页 |
| ·低噪声光电探测电路 | 第80-86页 |
| ·步进电机驱动控制 | 第86-87页 |
| ·数据采集与控制电路设计 | 第87-91页 |
| ·电源电路设计 | 第91页 |
| ·偏振耦合测试白光干涉数据处理 | 第91-105页 |
| ·干涉扫描数据特性分析 | 第92-95页 |
| ·干涉数据的滤波去噪 | 第95-100页 |
| ·耦合点的自动识别 | 第100-102页 |
| ·白光干涉包络提取 | 第102-105页 |
| ·偏振耦合测试仪软件系统开发 | 第105-110页 |
| ·软件系统的总体设计 | 第105-106页 |
| ·软件系统的几种关键技术 | 第106-109页 |
| ·软件系统完成的主要功能 | 第109-110页 |
| 本章小结 | 第110-112页 |
| 第四章 偏振耦合测试在分布式传感中的应用研究 | 第112-125页 |
| ·分布式光纤传感概述 | 第112-114页 |
| ·偏振耦合分布式应力传感原理 | 第114-118页 |
| ·分布式应力传感实验研究 | 第118-122页 |
| ·应力施加系统 | 第118-119页 |
| ·应力施加实验 | 第119-122页 |
| ·长距离分布式位置传感 | 第122-123页 |
| ·分布式温度传感 | 第123-124页 |
| 本章小结 | 第124-125页 |
| 第五章 保偏光纤双折射色散对偏振耦合测试的影响 | 第125-146页 |
| ·保偏光纤双折射色散 | 第125-126页 |
| ·色散与白光干涉 | 第126-129页 |
| ·色散对偏振耦合测试影响的理论分析 | 第129-134页 |
| ·色散对偏振耦合测试影响的实验研究 | 第134-143页 |
| ·各实验光纤环特性测试 | 第134-135页 |
| ·色散对包络展宽的影响实验 | 第135-140页 |
| ·色散对干涉可见度的影响实验 | 第140-143页 |
| ·偏振耦合测试仪光纤扫描范围和空间分辨率再研究 | 第143-145页 |
| 本章小结 | 第145-146页 |
| 第六章 偏振耦合测试实验及应用研究 | 第146-163页 |
| ·偏振耦合测试仪实验研究 | 第146-152页 |
| ·杂散光噪声影响实验 | 第146-147页 |
| ·空间分辨率实验 | 第147-148页 |
| ·耦合强度探测灵敏度实验 | 第148-149页 |
| ·偏振调整角度对耦合强度探测灵敏度的影响实验 | 第149-150页 |
| ·包络拟合效果实验 | 第150-152页 |
| ·偏振耦合测试仪应用研究 | 第152-161页 |
| ·保偏光纤环扫描测试 | 第152-153页 |
| ·偏振无源光器件测试 | 第153-154页 |
| ·保偏光纤对轴 | 第154-157页 |
| ·保偏光纤拍长测试 | 第157-161页 |
| ·偏振耦合测试仪已实现的参数和功能总结 | 第161-163页 |
| 第七章 总结与展望 | 第163-166页 |
| 本文完成的主要工作 | 第163-164页 |
| 工作中的主要创新点 | 第164-165页 |
| 本文下一步工作展望 | 第165-166页 |
| 参考文献 | 第166-178页 |
| 攻读博士学位期间发表论文和参加科研情况 | 第178-181页 |
| 致谢 | 第181页 |
