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RESS法制备SiO2微粒的研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-6页
目录第6-8页
第一章 绪论第8-10页
第二章 文献综述第10-31页
   ·SiO_2介绍第10-11页
     ·SiO_2介绍第10页
     ·SiO_2粒子的制备第10-11页
   ·超临界流体第11-29页
     ·超临界流体第11-14页
     ·超临界流体技术的应用第14-16页
     ·超临界流体制备微粒技术第16-19页
     ·超临界溶液快速膨胀法(RESS)第19-21页
     ·RESS过程操作条件的影响第21-25页
     ·RESS技术的应用第25-29页
   ·本章小结第29-31页
第三章 溶解度的测定第31-44页
   ·引言第31页
   ·固体在超临界流体中的溶解度的测定方法第31-34页
     ·萃取方法的分类第31-32页
     ·分析方法的分类第32-34页
   ·实验与检测方法第34-42页
     ·实验装置第34-35页
     ·实验材料第35页
     ·实验步骤第35-36页
     ·分析方法第36页
     ·仪器与试剂第36页
     ·取样管体积的测定第36-37页
     ·结果与讨论第37-42页
   ·本章小结第42-44页
第四章 溶解度模型关联第44-54页
   ·引言第44页
   ·固体超临界流体体系的相平衡热力学模型第44-46页
   ·Chrastil模型第46-50页
   ·P-R状态方程模型第50-53页
   ·本章小结第53-54页
第五章 RESS制备超细的SiO_2粒子第54-66页
   ·引言第54页
   ·实验第54-56页
     ·实验装置第54-55页
     ·实验材料第55页
     ·实验步骤第55-56页
     ·产品粒子粒径测定与形态表征第56页
   ·实验结果与讨论第56-64页
     ·经RESS造粒后的SiO_2粒子第56-58页
     ·萃取温度的考察第58-61页
     ·萃取压力的考察第61-64页
     ·粒子的生长第64页
   ·本章小结第64-66页
第六章 结论与展望第66-68页
参考文献第68-71页
致谢第71页

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