| 绪论 | 第1-24页 |
| ·光学干涉方法的研究进展 | 第7-13页 |
| ·云纹干涉法研究概况 | 第7-11页 |
| ·云纹干涉法的基本原理 | 第8-11页 |
| ·全息干涉法研究概况 | 第11-12页 |
| ·散斑干涉法研究概况 | 第12-13页 |
| ·基于数字图像处理技术的位移测量方法概况 | 第13-21页 |
| ·数字散斑相关法的发展过程与现状 | 第13-21页 |
| ·数字散斑相关法基本原理 | 第14-21页 |
| ·基于小波变换的数字图像相关 | 第21页 |
| ·复合材料多层板 AS4/PEEK 的性能表征 | 第21-22页 |
| ·本文的工作 | 第22-24页 |
| ·基于多种方法的位移场测量方法 | 第22-23页 |
| ·复合材料位移场测量 | 第23-24页 |
| 第一章 基于贝叶斯估计的位移场确定方法 | 第24-40页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·参数估计基本原理和常用方法 | 第24-26页 |
| ·基本原理和点估计 | 第24-25页 |
| ·常用的点估计方法 | 第25-26页 |
| ·贝叶斯基本理论和贝叶斯估计 | 第26-28页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·基本观点 | 第26-27页 |
| ·贝叶斯估计 | 第27-28页 |
| ·贝叶斯估计在数字图像处理确定位移场中的应用 | 第28-30页 |
| ·优化方法的选择 | 第30-32页 |
| ·离散图像的插值重构 | 第32-36页 |
| ·双线性插值 | 第33页 |
| ·二元三次样条插值 | 第33-36页 |
| ·精度分析 | 第36-39页 |
| ·计算机模拟实验 | 第36-38页 |
| ·实物实验验证 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第二章 基于互信息算法的位移场确定方法 | 第40-54页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·信息的定义 | 第40-41页 |
| ·信息的度量 | 第41-44页 |
| ·自信息和互信息 | 第41-42页 |
| ·信息熵和平均互信息 | 第42-44页 |
| ·互信息算法的基本原理 | 第44-46页 |
| ·程序开发及验证性实验 | 第46-51页 |
| ·程序开发 | 第46页 |
| ·灵敏度分析 | 第46-49页 |
| ·大小不同散斑模拟实验 | 第49-51页 |
| ·从信息论分析数字图像与相关方法 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第三章 基于 M 估计算法的位移场确定方法 | 第54-64页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·M 估计原理及计算方法 | 第54-56页 |
| ·常用 M 估计影响函数 | 第56-58页 |
| ·基于 M 估计的位移场测量方法 | 第58-60页 |
| ·基本原理 | 第58页 |
| ·优化算法 | 第58-60页 |
| ·程序开发及验证性实验 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第四章 基于模糊集理论的位移测量方法 | 第64-72页 |
| ·引言 | 第64页 |
| ·模糊集的基本概念 | 第64-65页 |
| ·经典集合 | 第64页 |
| ·模糊集及隶属函数 | 第64-65页 |
| ·贴近度与聚类分析 | 第65-68页 |
| ·模糊集内积与外积 | 第65页 |
| ·贴近度 | 第65-66页 |
| ·聚类分析 | 第66-68页 |
| ·基于模糊集位移测量方法原理 | 第68页 |
| ·问题的提出 | 第68页 |
| ·方法原理 | 第68页 |
| ·程序开发及验证性实验 | 第68-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第五章 复合材料层合板 AS4/PEEK[0/±45/90]7S层间位移场研究 | 第72-77页 |
| ·AS4/PEEK 的力学性能 | 第72页 |
| ·压缩荷载下 AS4/PEEK 的云纹干涉法测量结果 | 第72-74页 |
| ·云纹干涉法试件 | 第72-73页 |
| ·云纹干涉法光路系统 | 第73-74页 |
| ·实验结果 | 第74页 |
| ·基于贝叶斯最大后验估计方法用于 AS4/PEEK 的位移场测量 | 第74-77页 |
| ·实验设备 | 第74-75页 |
| ·实验结果 | 第75-77页 |
| 第六章 结 论 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
