| 1 引言 | 第1-9页 |
| ·研究背景 | 第5-7页 |
| ·标校技术发展概况 | 第7-8页 |
| ·本文的主要工作 | 第8-9页 |
| 2 天线辐射场与测角分系统标校 | 第9-14页 |
| ·天线的辐射场划分 | 第9页 |
| ·抛物面天线的辐射场 | 第9-11页 |
| ·天线测角分系统的标校 | 第11-14页 |
| 3 天线近场响应 | 第14-17页 |
| ·接收天线对源天线的近场响应 | 第14页 |
| ·卡塞格伦天线的近似处理 | 第14-15页 |
| ·方法可靠性分析 | 第15-17页 |
| 4 天线近场方向图的特性分析 | 第17-23页 |
| ·天线方向图的分析 | 第17页 |
| ·3分贝波束宽度的变化 | 第17-18页 |
| ·天线增益变化 | 第18-19页 |
| ·归一化差斜率 | 第19-20页 |
| ·和差通道相位差与交叉耦合 | 第20-22页 |
| ·近场角度标校总结 | 第22-23页 |
| 5 雷达距离无塔校零技术方案 | 第23-28页 |
| ·用反测法测量设备距离零值 | 第23-24页 |
| ·测距无塔校零技术方案 | 第24-28页 |
| 6 天线近场时延分析 | 第28-32页 |
| 7 距离校零误差分析 | 第32-38页 |
| ·校零误差概述 | 第32-33页 |
| ·漏射误差 | 第33-38页 |
| 结束语 | 第38-40页 |
| 致谢 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-43页 |