| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·选题背景 | 第10页 |
| ·FLASH MEMORY 产品现状及发展趋势 | 第10-13页 |
| ·FLASH MEMORY 产品现状 | 第10-12页 |
| ·FLASH MEMORY 产品发展趋势 | 第12-13页 |
| ·课题来源及研究的目的与意义 | 第13-14页 |
| ·本文主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 NAND FLASH 控制器设计的技术基础 | 第15-25页 |
| ·NAND FLASH 组织结构 | 第15-16页 |
| ·NAND FLASH 指令操作 | 第16-20页 |
| ·页编程指令 | 第17-18页 |
| ·页读取指令 | 第18-19页 |
| ·块擦除指令 | 第19-20页 |
| ·NAND FLASH AC 特性参数 | 第20-22页 |
| ·OPB 总线技术 | 第22-23页 |
| ·SOC 技术 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 NAND FLASH 控制器设计与实现 | 第25-48页 |
| ·控制器设计的基本要求 | 第25-26页 |
| ·功能要求 | 第25页 |
| ·性能要求 | 第25-26页 |
| ·总线接口模块设计与实现 | 第26-29页 |
| ·总线接口模块管脚描述 | 第26-27页 |
| ·总线接口模块总体结构原理 | 第27页 |
| ·总线接口模块设计 | 第27-29页 |
| ·控制模块设计与实现 | 第29-47页 |
| ·主控模块设计与实现 | 第30-38页 |
| ·ECC 模块设计与实现 | 第38-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 NAND FLASH 控制器的验证 | 第48-64页 |
| ·验证环境 | 第48-49页 |
| ·激励模块 | 第48页 |
| ·BFM | 第48-49页 |
| ·TESTCASES | 第49页 |
| ·RM 设计 | 第49-59页 |
| ·DUV 输出信号的AC 特性参数验证 | 第49-55页 |
| ·DUV 状态机跳转验证 | 第55-59页 |
| ·ECC 功能验证 | 第59-60页 |
| ·指令操作功能验证 | 第60-63页 |
| ·仿真环境 | 第60页 |
| ·指令操作仿真结果 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第5章 NAND FLASH 控制器的应用 | 第64-70页 |
| ·综合布局布线 | 第64-65页 |
| ·资源占用分析 | 第64-65页 |
| ·静态时序分析 | 第65页 |
| ·控制器的应用环境 | 第65-67页 |
| ·SSD 电子硬盘 | 第65-66页 |
| ·SATA 电子硬盘 | 第66-67页 |
| ·控制器的应用调试 | 第67-69页 |
| ·调试环境的建立 | 第67-68页 |
| ·指令功能的调试 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 总结与展望 | 第70-72页 |
| 工作总结 | 第70-71页 |
| 研究展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文 | 第77-78页 |
| 附录B 攻读学位期间所参加的科研项目 | 第78-79页 |
| 附录C ECC 功能验证源代码 | 第79-88页 |
| 附录D ECC 查错模块源代码 | 第88-92页 |