MICE超导耦合磁体失超过程与失超保护研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-15页 |
| 符号表 | 第15-18页 |
| 第1章 绪论 | 第18-43页 |
| ·课题背景 | 第18-25页 |
| ·物理背景 | 第18-21页 |
| ·MICE 实验背景 | 第21-25页 |
| ·MICE 超导耦合磁体概述 | 第25-29页 |
| ·耦合磁体失超与失超保护概述 | 第29-30页 |
| ·超导磁体失超保护系统研究现状 | 第30-41页 |
| ·超导磁体失超保护技术 | 第30-35页 |
| ·超导磁体失超过程数值模拟技术 | 第35-39页 |
| ·失超保护二极管组件低温性能 | 第39-41页 |
| ·本文主要研究内容 | 第41-43页 |
| 第2章 耦合磁体失超过程半经验数值模拟 | 第43-70页 |
| ·耦合磁体失超保护系统 | 第43-44页 |
| ·失超过程半经验模型 | 第44-58页 |
| ·失超模型概述 | 第44-45页 |
| ·耦合磁体内失超传播速度 | 第45-47页 |
| ·自然失超传播引起的正常区体积计算模型 | 第47-52页 |
| ·诱发失超传播引起的正常区体积计算模型 | 第52-54页 |
| ·传热模型 | 第54-55页 |
| ·电路模型 | 第55-57页 |
| ·失超模拟总体流程 | 第57-58页 |
| ·模型验证 | 第58-60页 |
| ·实验磁体基本参数 | 第58-59页 |
| ·实验磁体计算结果与讨论 | 第59-60页 |
| ·耦合磁体失超模拟结果与讨论 | 第60-68页 |
| ·计算参数 | 第60-61页 |
| ·失超过程主要参数变化规律 | 第61-63页 |
| ·分段数目对失超过程的影响 | 第63-64页 |
| ·保护阻值对失超过程的影响 | 第64-66页 |
| ·绑扎带材料对失超过程的影响 | 第66-68页 |
| ·耦合磁体失超过程保护系统参数确定 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第3章 耦合磁体失超过程耦合热电磁有限元模拟 | 第70-95页 |
| ·引言 | 第70-71页 |
| ·耦合热电磁有限元模型 | 第71-86页 |
| ·热物理环境 | 第72-74页 |
| ·电磁物理环境 | 第74-78页 |
| ·热物理环境与电磁物理环境的耦合 | 第78-81页 |
| ·失超过程耦合热电磁模拟在ANSYS 中的实现 | 第81-86页 |
| ·失超过程启动分析 | 第86-87页 |
| ·失超模拟结果及讨论 | 第87-91页 |
| ·骨架的诱发失超效应 | 第91-94页 |
| ·本章小结 | 第94-95页 |
| 第4章 分段螺线管磁体失超过程过电压准确分析 | 第95-107页 |
| ·引言 | 第95-96页 |
| ·过电压常规计算方法 | 第96-97页 |
| ·过电压准确计算方法 | 第97-99页 |
| ·螺线管线圈的等效电路 | 第97-98页 |
| ·失超过程过电压 | 第98-99页 |
| ·过电压准确计算结果 | 第99-104页 |
| ·实验磁体失超过程过电压 | 第99-102页 |
| ·耦合磁体失超过程过电压 | 第102-104页 |
| ·分段数目对过电压影响 | 第104-106页 |
| ·本章小结 | 第106-107页 |
| 第5章 失超保护二极管组件低温性能测试 | 第107-126页 |
| ·二极管组件结构 | 第107-109页 |
| ·二极管组件低温性能测试意义 | 第109-110页 |
| ·液氮温区二极管组件性能测试 | 第110-120页 |
| ·测试目的 | 第110页 |
| ·测试内容 | 第110页 |
| ·测试装置 | 第110-112页 |
| ·测试系统 | 第112-116页 |
| ·测试步骤 | 第116-117页 |
| ·测试结果与讨论 | 第117-120页 |
| ·10K 温区二极管性能测试 | 第120-125页 |
| ·测试目的 | 第120页 |
| ·测试方法 | 第120-122页 |
| ·测试过程 | 第122-123页 |
| ·测试结果与讨论 | 第123-125页 |
| ·本章小结 | 第125-126页 |
| 结论 | 第126-129页 |
| 参考文献 | 第129-138页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第138-140页 |
| 致谢 | 第140-141页 |
| 个人简历 | 第141页 |
