| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第9-18页 |
| 1.2.1 标准参考辐射 | 第9-11页 |
| 1.2.2 非标准参考辐射 | 第11-14页 |
| 1.2.3 小尺度参考辐射 | 第14-18页 |
| 1.3 研究意义 | 第18-20页 |
| 1.4 研究目标和研究内容 | 第20-21页 |
| 1.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 2 半景参考辐射的基本原理及关键技术问题 | 第22-29页 |
| 2.1 伽玛射线与物质的相互作用 | 第22-24页 |
| 2.1.1 光电效应 | 第22-23页 |
| 2.1.2 康普顿效应 | 第23-24页 |
| 2.2 半景参考辐射的基本原理 | 第24-27页 |
| 2.3 半景参考辐射的关键技术问题 | 第27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-29页 |
| 3 半景参考辐射计量场特征的蒙特卡罗模拟研究 | 第29-44页 |
| 3.1 蒙特卡罗概述 | 第29-31页 |
| 3.1.1 MCNP计算结构 | 第29-30页 |
| 3.1.2 MCNP栅元卡与曲面卡 | 第30页 |
| 3.1.3 MCNP数据卡 | 第30-31页 |
| 3.2 半景参考辐射的蒙特卡罗模型 | 第31-33页 |
| 3.3 辐射场均匀性研究 | 第33-42页 |
| 3.3.1 放射源与检验点距离变化对剂量率值的影响 | 第33-35页 |
| 3.3.2 检验点处的均匀性计算 | 第35-36页 |
| 3.3.3 半景参考辐射场检验点特性研究 | 第36-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-44页 |
| 4 放置待检探测器场境下SPRR计量场特征的模拟研究 | 第44-58页 |
| 4.1 检验点air kerma特性研究 | 第44-50页 |
| 4.1.1 墙面散射对检验点处剂量率值的影响 | 第44-45页 |
| 4.1.2 天花板对检验点处剂量率值的影响 | 第45页 |
| 4.1.3 探头尺寸变化对检验点处剂量率值的影响 | 第45-46页 |
| 4.1.4 障碍物变化对检验点处剂量率值的影响 | 第46-50页 |
| 4.2 散射监测点特性研究 | 第50-56页 |
| 4.2.1 墙面距离变化对监测点散射能谱的影响 | 第50-51页 |
| 4.2.2 天花板高度变化对监测点散射能谱的影响 | 第51-52页 |
| 4.2.3 探测器探头尺寸变化对监测点散射能谱的影响 | 第52-53页 |
| 4.2.4 障碍物变化对监测点散射能谱的影响 | 第53-54页 |
| 4.2.5 不同影响因素之间的比较 | 第54-56页 |
| 4.3 SPRR引起的辐射防护状况分析 | 第56-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 5 总结与展望 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 附录 | 第65-66页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第65页 |
| B.作者在攻读硕士学位期间取得的科研成果 | 第65-66页 |
