数字集成电路中芯核水印关键技术研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第17-29页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第17-19页 |
| 1.2 国内外芯核水印技术研究现状 | 第19-24页 |
| 1.2.1 基于FPGA的芯核水印技术研究进展 | 第20-23页 |
| 1.2.2 基于FSM的芯核水印技术研究进展 | 第23页 |
| 1.2.3 可测试芯核水印研究进展 | 第23-24页 |
| 1.3 本文主要工作 | 第24-26页 |
| 1.4 论文结构 | 第26-29页 |
| 第2章 数字芯核版权保护技术概述 | 第29-44页 |
| 2.1 数字芯核水印概念 | 第29-34页 |
| 2.1.1 数字芯核水印特点 | 第30-33页 |
| 2.1.2 面临的困难和挑战 | 第33-34页 |
| 2.2 数字芯核版权保护技术 | 第34-37页 |
| 2.2.1 芯片标签加密技术 | 第34-35页 |
| 2.2.2 PUF物理版权保护技术 | 第35-37页 |
| 2.3 数字芯核水印检测技术 | 第37-39页 |
| 2.3.1 数字芯核水印检测需求分析 | 第38页 |
| 2.3.2 芯核水印安全检测分析 | 第38-39页 |
| 2.4 水印性能的评估 | 第39-40页 |
| 2.5 实验设计流程与开发环境 | 第40-43页 |
| 2.5.1 ISE的设计流程 | 第40-41页 |
| 2.5.2 Modelsim的功能仿真 | 第41-42页 |
| 2.5.3 FPGA综合工具Synplify | 第42-43页 |
| 2.6 本章小结 | 第43-44页 |
| 第3章 基于混沌映射理论的芯核水印算法 | 第44-54页 |
| 3.1 引言 | 第44-45页 |
| 3.2 混沌理论数学模型 | 第45-46页 |
| 3.3 混沌映射的芯核水印化过程 | 第46-49页 |
| 3.3.1 LUT水印嵌入原理 | 第46-47页 |
| 3.3.2 混沌芯核水印嵌入 | 第47-48页 |
| 3.3.3 混沌芯核水印提取 | 第48-49页 |
| 3.4 性能分析及仿真 | 第49-50页 |
| 3.4.1 性能分析 | 第49-50页 |
| 3.4.2 实验仿真 | 第50页 |
| 3.5 实验结果比较 | 第50-53页 |
| 3.5.1 资源开销性能 | 第50-51页 |
| 3.5.2 物理布局性能 | 第51-53页 |
| 3.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第4章 基于FSM时间冗余属性特征的芯核水印算法 | 第54-68页 |
| 4.1 引言 | 第54-55页 |
| 4.2 问题描述和定义 | 第55-56页 |
| 4.3 水印嵌入原理 | 第56-58页 |
| 4.4 FSM芯核水印实现过程 | 第58-59页 |
| 4.5 FSM芯核水印实例 | 第59-62页 |
| 4.5.1 FSM芯核水印生成 | 第59-60页 |
| 4.5.2 FSM芯核水印嵌入 | 第60页 |
| 4.5.3 FSM芯核水印提取 | 第60-61页 |
| 4.5.4 FSM芯核水印验证 | 第61-62页 |
| 4.6 算法性能分析 | 第62-63页 |
| 4.6.1 安全性能 | 第62-63页 |
| 4.6.2 可检测性能分析 | 第63页 |
| 4.7 实验结果分析与比较 | 第63-67页 |
| 4.7.1 仿真测试结果分析 | 第63-64页 |
| 4.7.2 抗攻击性能分析 | 第64-65页 |
| 4.7.3 测试结果分析与评估 | 第65-67页 |
| 4.8 本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 基于向量相关度特性的多扫描链芯核水印算法 | 第68-84页 |
| 5.1 引言 | 第68页 |
| 5.2 向量相关度数学模型 | 第68-71页 |
| 5.3 多扫描链芯核水印方法 | 第71-73页 |
| 5.3.1 总体设计思想 | 第71-72页 |
| 5.3.2 多扫描链水印结构 | 第72-73页 |
| 5.4 多扫描链芯核水印算法设计 | 第73-77页 |
| 5.4.1 多扫描链芯核水印嵌入 | 第73-76页 |
| 5.4.2 多扫描链芯核水印检测 | 第76-77页 |
| 5.5 实验结果及性能分析 | 第77-82页 |
| 5.5.1 资源开销验证 | 第77-79页 |
| 5.5.2 可靠性实验分析 | 第79-81页 |
| 5.5.3 抗攻击性能 | 第81-82页 |
| 5.6 本章小结 | 第82-84页 |
| 第6章 基于零知识证明协议的芯核水印盲检测方案 | 第84-99页 |
| 6.1 引言 | 第84-85页 |
| 6.2 零知识交互证明ZKP协议 | 第85-87页 |
| 6.2.1 初始化阶段 | 第85页 |
| 6.2.2 鉴别阶段 | 第85页 |
| 6.2.3 完备性、公正性和零知识性证明 | 第85-87页 |
| 6.3 零知识芯核水印算法 | 第87-89页 |
| 6.3.1 零知识水印生成 | 第88页 |
| 6.3.2 零知识水印嵌入 | 第88页 |
| 6.3.3 零知识水印提取 | 第88-89页 |
| 6.4 基于零知识证明协议的芯核水印盲检测算法 | 第89-94页 |
| 6.4.1 整体置乱 | 第89-90页 |
| 6.4.2 分块置乱 | 第90-92页 |
| 6.4.3 水印检测 | 第92-94页 |
| 6.4.4 算法性能分析 | 第94页 |
| 6.5 实验结果及分析 | 第94-98页 |
| 6.5.1 水印检测稳定性分析 | 第94-96页 |
| 6.5.2 安全分析 | 第96-98页 |
| 6.6 本章小结 | 第98-99页 |
| 第7章 基于隐秘内容自恢复机制的芯核水印认证方案 | 第99-109页 |
| 7.1 引言 | 第99-100页 |
| 7.2 双重IP水印生成 | 第100页 |
| 7.3 自恢复数学模型 | 第100-101页 |
| 7.3.1 恢复原理 | 第100-101页 |
| 7.3.2 映射关系 | 第101页 |
| 7.4 自恢复双重芯核水印认证方法设计 | 第101-104页 |
| 7.4.1 双重水印嵌入 | 第101-103页 |
| 7.4.2 双重水印提取 | 第103页 |
| 7.4.3 双重水印恢复 | 第103-104页 |
| 7.5 实验结果分析与比较 | 第104-108页 |
| 7.5.1 算法安全性能分析 | 第104-106页 |
| 7.5.2 物理布局效果图 | 第106页 |
| 7.5.3 水印嵌入容量 | 第106-107页 |
| 7.5.4 水印自恢复能力评估 | 第107-108页 |
| 7.6 本章小结 | 第108-109页 |
| 第8章 芯核水印原型系统设计与实现 | 第109-115页 |
| 8.1 混沌映射芯核水印系统 | 第109-111页 |
| 8.2 自恢复双重芯核水印系统 | 第111-113页 |
| 8.3 零知识芯核水印盲检测系统 | 第113-114页 |
| 8.4 本章小结 | 第114-115页 |
| 结论 | 第115-118页 |
| 参考文献 | 第118-129页 |
| 致谢 | 第129-131页 |
| 附录A 攻读学位期间主要成果 | 第131-133页 |
| 附录B 攻读学位期间主持和参与的研究项目 | 第133页 |
