| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-11页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 信息处理系统高强辐射场试验研究 | 第12-22页 |
| 2.1 计算机系统高强辐射场试验研究 | 第12-19页 |
| 2.1.1 试验方法 | 第12-14页 |
| 2.1.2 试验结论及分析 | 第14-19页 |
| 2.2 传感器系统高强辐射场试验研究 | 第19-21页 |
| 2.2.1 试验方法及结论 | 第19-20页 |
| 2.2.2 试验结论分析 | 第20-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 箱体屏蔽效能研究 | 第22-26页 |
| 3.1 电磁防护方法介绍 | 第22页 |
| 3.2 箱体屏蔽效能研究 | 第22-25页 |
| 3.2.1 屏蔽效能测试方法研究 | 第22-23页 |
| 3.2.2 基于内嵌式混响室屏蔽效能测试研究 | 第23-25页 |
| 3.3 本章小结 | 第25-26页 |
| 第四章 混响室高强辐射场环境仿真研究 | 第26-35页 |
| 4.1 仿真软件介绍 | 第26-29页 |
| 4.2 高频段混响室模型建立 | 第29-34页 |
| 4.2.1 混响室场均匀性判定方法 | 第29-32页 |
| 4.2.2 混响室场均匀性仿真 | 第32-34页 |
| 4.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第五章 屏蔽箱体屏蔽效能仿真研究 | 第35-46页 |
| 5.1 模型建立 | 第35页 |
| 5.2 仿真方法 | 第35-37页 |
| 5.2.1 屏蔽体屏蔽效能经典方法仿真 | 第35-36页 |
| 5.2.2 屏蔽体屏蔽效能混响室环境下仿真 | 第36-37页 |
| 5.3 测量计算位置设置及屏蔽效能计算 | 第37页 |
| 5.3.1 利用经典方法仿真测量位置设置及屏蔽效能计算 | 第37页 |
| 5.3.2 利用混响室方法仿真测量位置设置及屏蔽效能计算 | 第37页 |
| 5.4 屏蔽体屏蔽效能仿真结果及其分析 | 第37-43页 |
| 5.4.1 屏蔽效能经典测试方法仿真结果分析 | 第37-39页 |
| 5.4.2 屏蔽效能混响室环境仿真结果分析 | 第39-42页 |
| 5.4.3 两种屏蔽效能测试方法仿真结果对比分析 | 第42-43页 |
| 5.5 试验结论总结与分析 | 第43-44页 |
| 5.5.1 仿真结论总结 | 第43页 |
| 5.5.2 仿真结论分析 | 第43-44页 |
| 5.6 本章小结 | 第44-46页 |
| 第六章 信息处理系统高强辐射场屏蔽防护研究 | 第46-52页 |
| 6.1 电磁屏蔽分类 | 第46-48页 |
| 6.1.1 电场屏蔽 | 第46页 |
| 6.1.2 磁场屏蔽 | 第46-47页 |
| 6.1.3 电磁屏蔽 | 第47-48页 |
| 6.2 电磁屏蔽防护设计 | 第48-50页 |
| 6.2.1 类型确定 | 第48页 |
| 6.2.2 材料选取 | 第48页 |
| 6.2.3 整体缝隙处理 | 第48-49页 |
| 6.2.4 螺钉布置 | 第49页 |
| 6.2.5 通风孔设计 | 第49页 |
| 6.2.6 线缆处理 | 第49-50页 |
| 6.2.7 显示器处理 | 第50页 |
| 6.3 本章小结 | 第50-52页 |
| 第七章 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58页 |