| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 本论文创新之处 | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-52页 |
| 1.1 差式扫描量热技术简介 | 第13-15页 |
| 1.2 非商用功率补偿型量热仪简介 | 第15-20页 |
| 1.2.1 高速扫描量热技术的发展简介 | 第15-18页 |
| 1.2.2 高速升降温及测量原理 | 第18-20页 |
| 1.3 商用闪速扫描量热仪(Flash DSC)简介 | 第20-22页 |
| 1.4 超灵敏差分交流芯片量热仪(AC-chip calorimeter)简介 | 第22-25页 |
| 1.5 先进热分析技术在高分子物理中的应用 | 第25-38页 |
| 1.5.1 探测受限态下高分子的运动性及玻璃化转变温度 | 第25-30页 |
| 1.5.2 研究受限态下高分子薄膜的分步结晶现象 | 第30-34页 |
| 1.5.3 研究高分子共混物的相分离动力学 | 第34-38页 |
| 参考文献 | 第38-52页 |
| 第二章 超快速扫描量热技术对高分子相分离动力学的研究 | 第52-78页 |
| 2.1 前言 | 第52-53页 |
| 2.2 实验部分 | 第53-56页 |
| 2.2.1 原料与试剂 | 第53页 |
| 2.2.2 光学显微镜与原子力显微镜 | 第53-54页 |
| 2.2.3 流变学测量 | 第54页 |
| 2.2.4 超快速扫描量热仪 | 第54页 |
| 2.2.5 获取相图以及相分离动力学的温度控制程序 | 第54-56页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第56-71页 |
| 2.3.1 相图的构建 | 第56-59页 |
| 2.3.2 等温温度在385 K以下时Tg的变化(NG机理) | 第59-64页 |
| 2.3.3 等温温度在385K以上时Tg的变化(SD机理) | 第64-67页 |
| 2.3.4 SD机理下相组成随相分离温度的变化 | 第67-69页 |
| 2.3.5 粘弹性相分离机理下相组成随相分离温度的变化 | 第69-71页 |
| 2.4 结论 | 第71页 |
| 参考文献 | 第71-78页 |
| 第三章 超灵敏差分交流芯片量热仪对高分子超薄膜稳态化过程的研究 | 第78-99页 |
| 3.1 前言 | 第78-80页 |
| 3.2 实验部分 | 第80-83页 |
| 3.2.1 原料与试剂 | 第80页 |
| 3.2.2 样品的表征 | 第80-83页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第83-92页 |
| 3.3.1 分子构型对PS薄膜稳态化过程的影响 | 第83-89页 |
| 3.3.2 FRET方法对PS薄膜稳态化过程中链间堆积密度的研究 | 第89-91页 |
| 3.3.3 界面效应对PS超薄膜稳态化过程的影响 | 第91-92页 |
| 3.4 结论 | 第92-93页 |
| 参考文献 | 第93-99页 |
| 第四章 闪速差式扫描量热仪对高分子薄膜分步结晶行为的研究 | 第99-121页 |
| 4.1 前言 | 第99-100页 |
| 4.2 实验部分 | 第100-103页 |
| 4.2.1 Flash DSC 1 | 第100-101页 |
| 4.2.2 薄膜的制备 | 第101-102页 |
| 4.2.3 量热学方法 | 第102-103页 |
| 4.3 实验结果 | 第103-110页 |
| 4.4 讨论与分析 | 第110-116页 |
| 4.5 结论 | 第116-117页 |
| 参考文献 | 第117-121页 |
| 结束语 | 第121-125页 |
| 引用文献 | 第122-125页 |
| 攻读博士期间发表和待发表的课题论文 | 第125-126页 |
| 致谢 | 第126-127页 |
