PandaX-Ⅲ实验读出电子学系统研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-27页 |
| 1.1. 无中微子双β衰变简介 | 第11-15页 |
| 1.2. 无中微子双β衰变研究现状 | 第15-19页 |
| 1.3. PandaX-Ⅲ实验 | 第19-23页 |
| 1.4. 本论文研究内容及结构安排 | 第23-24页 |
| 参考文献 | 第24-27页 |
| 第二章 PandaX-Ⅲ实验读出方案设计 | 第27-49页 |
| 2.1. PandaX-Ⅲ实验装置介绍 | 第27-34页 |
| 2.1.1. 时间投影室 | 第27-28页 |
| 2.1.2. Micromegas探测器 | 第28-30页 |
| 2.1.3. PandaX-Ⅲ实验装置 | 第30-33页 |
| 2.1.4. 读出电子学需求 | 第33-34页 |
| 2.2. 读出电子学系统方案设计 | 第34-43页 |
| 2.2.1. 国外同类实验读出电子学调研 | 第35-41页 |
| 2.2.2. 可扩展读出架构探讨 | 第41-43页 |
| 2.3. PandaX-Ⅲ实验读出电子学系统方案 | 第43-46页 |
| 2.4. 本章小结 | 第46页 |
| 参考文献 | 第46-49页 |
| 第三章 原型读出电子学设计实现 | 第49-99页 |
| 3.1. 电子学设计 | 第49-76页 |
| 3.1.1. 前端电子学 | 第50-54页 |
| 3.1.2. 后端电子学 | 第54-76页 |
| 3.2. 数据获取软件设计 | 第76-78页 |
| 3.3. 电子学测试 | 第78-96页 |
| 3.3.1. 前端读出板测试 | 第78-86页 |
| 3.3.2. 丝网读出板测试 | 第86-88页 |
| 3.3.3. 数据获取板测试 | 第88-95页 |
| 3.3.4. 测试小结 | 第95-96页 |
| 3.4. 本章小结 | 第96页 |
| 参考文献 | 第96-99页 |
| 第四章 工程验证读出电子学设计实现 | 第99-117页 |
| 4.1. 电子学设计 | 第100-112页 |
| 4.1.1. 基于普通IO光纤链路实现 | 第100-105页 |
| 4.1.2. 电子学模块 | 第105-111页 |
| 4.1.3. 系统时钟触发同步 | 第111-112页 |
| 4.2. 工程验证电子学测试 | 第112-116页 |
| 4.3. 本章小结 | 第116页 |
| 参考文献 | 第116-117页 |
| 第五章 探测器联调测试 | 第117-127页 |
| 5.1. PandaX-Ⅲ原型时间投影室联调测试 | 第117-121页 |
| 5.2. 探测器单元测试 | 第121-126页 |
| 5.3. 本章小结 | 第126页 |
| 参考文献 | 第126-127页 |
| 第六章 总结与展望 | 第127-131页 |
| 6.1. 总结 | 第127-128页 |
| 6.2. 展望 | 第128-131页 |
| 致谢 | 第131-133页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第133页 |
