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氧化亚铜电沉积过程的椭圆偏振光谱法研究

中文摘要第3-5页
英文摘要第5-6页
1 绪论第9-19页
    1.1 镍的基本属性第9页
    1.2 金属着色技术第9-12页
    1.3 氧化亚铜薄膜电沉积第12-15页
        1.3.1 氧化亚铜电沉积基本原理第12-13页
        1.3.2 氧化亚铜电沉积体系第13-15页
    1.4 椭偏在干涉薄膜测量中的应用第15-17页
    1.5 课题研究内容第17-19页
2 实验第19-31页
    2.1 实验仪器、药品及材料第19-20页
        2.1.1 实验仪器第19页
        2.1.2 实验药品第19-20页
        2.1.3 实验材料第20页
    2.2 溶液配方第20-21页
    2.3 实验过程第21-23页
    2.4 研究方法第23-31页
        2.4.1 Hull槽试验第23页
        2.4.2 脉冲电沉积第23-24页
        2.4.3 扫描电子显微镜第24页
        2.4.4 X射线光电子能谱仪第24-25页
        2.4.5 椭圆偏振光谱法第25-31页
3 椭圆偏振光谱数据解析第31-41页
    3.1 SEM表征结果第31-32页
    3.2 XPS表征结果第32-35页
    3.3 椭圆偏振光谱数据解析过程第35-41页
4 直流彩色电沉积过程的椭圆偏振光谱研究第41-67页
    4.1 直流Hull槽实验第41-61页
        4.1.1 柠檬酸钠的影响第42-52页
        4.1.2 酒石酸钾钠的影响第52-61页
    4.2 直流电沉积实验第61-67页
5 脉冲彩色电沉积过程的椭圆偏振光谱研究第67-77页
    5.1 脉冲电沉积概述第67-68页
    5.2 脉冲Hull槽实验第68-73页
    5.3 脉冲电沉积实验第73-77页
6 结论与展望第77-79页
    6.1 结论第77页
    6.2 展望第77-79页
致谢第79-81页
参考文献第81-85页
附录第85页

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