| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-26页 |
| 1.1 弛豫铁电体概述 | 第12-14页 |
| 1.2 钙钦矿型弛豫铁电单晶生长与研究进展 | 第14-24页 |
| 1.2.1 铁电单晶生长理论与技术 | 第15-16页 |
| 1.2.2 铁电单晶凝固过程中的成分偏析 | 第16-17页 |
| 1.2.3 PMN-PT基弛豫铁电单晶研究现状 | 第17-21页 |
| 1.2.4 PMN-PT基弛豫铁电单晶存在问题 | 第21-24页 |
| 1.3 本论文研究主要内容与意义 | 第24-26页 |
| 第2章 PMN-32PT铁电单晶成分偏析及性能研究 | 第26-56页 |
| 2.1 样品加工及实验测量方法 | 第26-28页 |
| 2.1.1 单晶样品的定向与切割 | 第26页 |
| 2.1.2 测试前样品的预处理 | 第26-27页 |
| 2.1.3 成分与性能测试方法 | 第27-28页 |
| 2.2 (001)_(cut) PMN-32PT铁电单晶成分分布及性能研究 | 第28-45页 |
| 2.2.1 不同取向电学性能分布规律 | 第28-36页 |
| 2.2.2 不同取向元素测试与分布规律 | 第36-45页 |
| 2.2.3 电学性能与成分分布相关性 | 第45页 |
| 2.3 (111)_(cut) PMN-32PT铁电单晶成分分布及性能研究 | 第45-53页 |
| 2.3.1 (111)晶面上特定取向电学性能测试 | 第45-49页 |
| 2.3.2 [011]方向上元素分布规律 | 第49-53页 |
| 2.3.3 电学性能与成分分布相关性 | 第53页 |
| 2.4 本章小结 | 第53-56页 |
| 第3章 伪二元PMN-PT晶体结构相变与电畴演化 | 第56-88页 |
| 3.1 温度诱导(001)_(cut) PMN-31PT铁电单晶相变行为研究 | 第56-69页 |
| 3.1.1 (001)_(cut) PMN-31PT铁电单晶的介电性能 | 第56-58页 |
| 3.1.2 (001)_(cut) PMN-31PT铁电单晶的热膨胀行为 | 第58-61页 |
| 3.1.3 (001)_(cut) PMN-31PT铁电单晶室温相结构的确定 | 第61-64页 |
| 3.1.4 温度诱导(001)cutPMN-31PT晶体的电畴演化过程 | 第64-66页 |
| 3.1.5 (001)_(cut) PMN-31PT晶体的变温拉曼散射与相变行为 | 第66-69页 |
| 3.2 多场耦合对PMN-PT晶体结构相变与电畴演变的影响 | 第69-78页 |
| 3.2.1 极化的(001)_(cut)PMN-31PT晶体结构相变与介电温谱 | 第69-71页 |
| 3.2.2 极化的(001)_(cut)PMN-31PT晶体的热膨胀与电畴演化过程 | 第71-75页 |
| 3.2.3 压力诱导(001)_(cut)PMN-31PT晶体的热膨胀与相变行为 | 第75-78页 |
| 3.3 电场诱导PMN-PT晶体相变行为与电畴尺寸效应 | 第78-86页 |
| 3.3.1 取向、组分和电场对PMN-PT晶体介电与相变行为的影响 | 第78-82页 |
| 3.3.2 (001)_(cut) PMN-30PT晶体电畴尺寸与电学性能相关性 | 第82-86页 |
| 3.4 本章小结 | 第86-88页 |
| 第4章 PMN-33PT晶体高电学性能的起源与低温相变 | 第88-110页 |
| 4.1 试样前期制备与测试 | 第88页 |
| 4.2 PMN-33PT铁电单晶的压电性能 | 第88-89页 |
| 4.3 (001)_(cut) PMN-33PT铁电单晶的介电性能 | 第89-95页 |
| 4.3.1 PMN-33PT铁电单晶介电温谱 | 第89-94页 |
| 4.3.2 PMN-33PT铁电单晶低温区介电频谱 | 第94-95页 |
| 4.4 (001)_(cut) PMN-33PT铁电单晶超低温区微观局域极化行为 | 第95-98页 |
| 4.5 (001)_(cut) PMN-33PT铁电单晶的超低温拉曼散射研究 | 第98-108页 |
| 4.6 本章小结 | 第108-110页 |
| 第5章 PSN改性的伪二元PMN-PT单晶的结构与性能表征 | 第110-126页 |
| 5.1 PMN-PT-PSN晶体的相结构与宏观形貌 | 第110-111页 |
| 5.1.1 Bridgman法生长的晶体的宏观形貌 | 第110-111页 |
| 5.1.2 晶体的XRD相结构 | 第111页 |
| 5.2 电学性能表征 | 第111-120页 |
| 5.2.1 晶体的介电与弛豫性能分析 | 第111-113页 |
| 5.2.2 晶体的压电性能检测与分析 | 第113-116页 |
| 5.2.3 晶体的铁电性能检测与分析 | 第116页 |
| 5.2.4 不同退火温度下介电性能检测 | 第116-118页 |
| 5.2.5 不同退火温度下压电性能检测 | 第118-120页 |
| 5.3 铁电畴的观察 | 第120-124页 |
| 5.3.1 不同极化方式电畴组态观察 | 第120-122页 |
| 5.3.2 不同退火温度下电畴组态观察 | 第122-124页 |
| 5.4 本章小结 | 第124-126页 |
| 第6章 PMN-PT-PSN弛豫铁电体的点缺陷及电荷输运 | 第126-144页 |
| 6.1 非化学剂量无铅NBT基陶瓷介电弛豫与电传导 | 第126-135页 |
| 6.1.1 制备工艺与测试手段 | 第126-127页 |
| 6.1.2 相结构与微结构分析 | 第127-128页 |
| 6.1.3 介电与弛豫性能分析 | 第128-130页 |
| 6.1.4 电传导与弛豫性能分析 | 第130-133页 |
| 6.1.5 不同种类化学缺陷分析 | 第133-135页 |
| 6.2 (001)切向PSN-PMN-PT晶体电学性能与缺陷分析 | 第135-143页 |
| 6.2.1 介电与弛豫性能分析 | 第136-137页 |
| 6.2.2 阻抗及其电模量分析 | 第137-141页 |
| 6.2.3 电传导与缺陷分析 | 第141-143页 |
| 6.3 本章小结 | 第143-144页 |
| 第7章 总结与展望 | 第144-148页 |
| 7.1 主要结论 | 第144-145页 |
| 7.2 主要创新点 | 第145-146页 |
| 7.3 展望 | 第146-148页 |
| 7.3.1 晶体凝固过程中元素分布 | 第146页 |
| 7.3.2 元素分布与结构和性能之间的相关性 | 第146页 |
| 7.3.3 化学缺陷对晶体局域场的影响 | 第146-148页 |
| 参考文献 | 第148-162页 |
| 致谢 | 第162-164页 |
| 攻读学位期间取得的成果 | 第164页 |
