| 中文摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第10页 |
| 1.2 晶界设计与控制 | 第10-12页 |
| 1.2.1 晶界 | 第10-11页 |
| 1.2.2 晶界特征分布优化 | 第11-12页 |
| 1.3 基于取向差表征的GBCD优化研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3.1 GBCD优化工艺 | 第12-13页 |
| 1.3.2 GBCD优化的判据 | 第13-14页 |
| 1.3.3 有关晶界腐蚀实验的研究 | 第14-15页 |
| 1.4 晶界面取向的FPA表征 | 第15-17页 |
| 1.5 两种变形方式比较 | 第17-20页 |
| 1.5.1 等径角挤压变形 | 第17-19页 |
| 1.5.2 单向轧制 | 第19-20页 |
| 1.6 论文研究的主要内容 | 第20-22页 |
| 第二章 ECAP变形量对高纯铝再结晶晶界面取向分布的影响 | 第22-39页 |
| 2.1 前言 | 第22页 |
| 2.2 实验过程 | 第22页 |
| 2.3 实验方法 | 第22-27页 |
| 2.3.1 样品准备 | 第22页 |
| 2.3.2 多向锻造与真空退火 | 第22-23页 |
| 2.3.3 ECAP变形 | 第23-24页 |
| 2.3.4 XRD测试 | 第24页 |
| 2.3.5 再结晶退火 | 第24-25页 |
| 2.3.6 EBSD样品制备 | 第25页 |
| 2.3.7 EBSD测试 | 第25-26页 |
| 2.3.8 数据处理 | 第26-27页 |
| 2.4 实验结果与讨论 | 第27-38页 |
| 2.4.1 初始试样 | 第27-28页 |
| 2.4.2 变形试样 | 第28-29页 |
| 2.4.3 显微组织结构 | 第29-32页 |
| 2.4.4 晶界面取向分布 | 第32-34页 |
| 2.4.5 晶界组成及不同取向差晶界面取向分布 | 第34-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 ECAP变形后的预回复处理对高纯铝再结晶晶界面取向分布的影响 | 第39-47页 |
| 3.1 前言 | 第39页 |
| 3.2 实验过程与方法 | 第39-40页 |
| 3.3 实验结果与讨论 | 第40-46页 |
| 3.3.1 显微组织结构 | 第40-43页 |
| 3.3.2 晶界面取向分布 | 第43页 |
| 3.3.3 不同取向差晶界面取向分布 | 第43-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 变形方式对高纯铝再结晶晶界面取向分布的影响 | 第47-62页 |
| 4.1 前言 | 第47页 |
| 4.2 实验方法与过程 | 第47-48页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第48-61页 |
| 4.3.1 显微组织结构 | 第48-52页 |
| 4.3.2 晶界组成 | 第52-53页 |
| 4.3.3 晶界面取向分布 | 第53-59页 |
| 4.3.4 CSL晶界的晶界面取向分布 | 第59-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 冷变形高纯铝再结晶晶界面的腐蚀性能研究 | 第62-65页 |
| 5.1 前言 | 第62页 |
| 5.2 实验过程与方法 | 第62-63页 |
| 5.2.1 样品准备 | 第63页 |
| 5.2.2 晶界腐蚀 | 第63页 |
| 5.2.3 晶界腐蚀抗力的评价 | 第63页 |
| 5.3 实验结果与讨论 | 第63-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 个人简历 | 第71-72页 |
| 在学期间的研究成果和发表的学术论文 | 第72页 |
