大面积X射线探测器封装结构设计分析
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第9-17页 |
| 1.1 研究的意义及背景 | 第9-10页 |
| 1.2 X射线成像技术的原理 | 第10-11页 |
| 1.3 X射线探测器发展历史 | 第11-13页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.5 本论文研究的内容 | 第14-15页 |
| 1.6 本章小结 | 第15-17页 |
| 第2章 基于现代设计方法的探测器封装设计 | 第17-41页 |
| 2.1 现代设计方法 | 第17-20页 |
| 2.1.1 现代设计方法的发展 | 第17页 |
| 2.1.2 现代设计方法流派 | 第17-18页 |
| 2.1.3 现代设计方法主要内容 | 第18-20页 |
| 2.2 本文研究的探测器原理 | 第20-21页 |
| 2.3 探测器主要构成元器件选择 | 第21-26页 |
| 2.3.1 探测器的主要构成部分 | 第21-22页 |
| 2.3.2 关键部件 | 第22-26页 |
| 2.4 探测器封装设计方案 | 第26-40页 |
| 2.4.1 探测器制冷方案选择 | 第26-28页 |
| 2.4.2 光学纤维光锥 2*2 阵列安装方案 | 第28-32页 |
| 2.4.3 光锥阵列与CCD阵列耦合 | 第32-34页 |
| 2.4.4 X射线探测器密封设计 | 第34-36页 |
| 2.4.5 探测器封装主体结构 | 第36-39页 |
| 2.4.6 探测器虚拟样机装配 | 第39-40页 |
| 2.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第3章 探测器密封结构有限元分析 | 第41-48页 |
| 3.1 有限元的基本原理 | 第41页 |
| 3.2 探测器封装结构的有限元分析 | 第41-47页 |
| 3.2.1 定义参数 | 第42-43页 |
| 3.2.2 建立几何模型 | 第43页 |
| 3.2.3 划分网格 | 第43-45页 |
| 3.2.4 FEA力边界条件及位移边界条件 | 第45-46页 |
| 3.2.5 求解及FEA分析结果 | 第46-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 探测器物理样机组装及测试 | 第48-66页 |
| 4.1 探测器封装关键制造工艺 | 第48-49页 |
| 4.2 探测器物理样机组装 | 第49-53页 |
| 4.3 X射线探测器性能表征 | 第53-61页 |
| 4.3.1 量子检出效率 | 第53-55页 |
| 4.3.2 调制传递函数 | 第55-60页 |
| 4.3.3 噪声功率谱 | 第60-61页 |
| 4.4 X射线探测器样机应用及测试 | 第61-64页 |
| 4.4.1 测试平台搭建 | 第61-62页 |
| 4.4.2 探测器物理样机应用及测试 | 第62-64页 |
| 4.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第74页 |
