| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 石墨烯 | 第11-15页 |
| 1.1.1 石墨烯的性能 | 第12-13页 |
| 1.1.2 石墨烯的制备 | 第13-15页 |
| 1.2 氧化石墨烯 | 第15-16页 |
| 1.2.1 氧化石墨烯的特性 | 第15页 |
| 1.2.2 氧化石墨烯的制备 | 第15-16页 |
| 1.3 碳纳米管 | 第16-17页 |
| 1.4 超级电容器简介 | 第17-19页 |
| 1.4.1 超级电容器的结构 | 第18页 |
| 1.4.2 超级电容器储能原理 | 第18-19页 |
| 1.5 论文选题及结构 | 第19-21页 |
| 第二章 石墨烯的电化学制备方法及分析方法 | 第21-30页 |
| 2.1 石墨烯的电化学制备方法简介 | 第21-23页 |
| 2.1.1 一步法 | 第21-22页 |
| 2.1.2 两步法 | 第22-23页 |
| 2.2 氧化石墨烯电化学还原为石墨烯的还原机理 | 第23页 |
| 2.3 ERGO薄膜的制备 | 第23-24页 |
| 2.3.1 电化学平台 | 第23-24页 |
| 2.3.2 循环伏安法 | 第24页 |
| 2.4 材料的表征方法 | 第24-26页 |
| 2.4.1 激光拉曼光谱分析（Raman) | 第24-25页 |
| 2.4.2 傅里叶红外光谱分析（FTIR) | 第25页 |
| 2.4.3 扫描电子显微镜（SEM） | 第25页 |
| 2.4.4 X射线衍射分析（XRD） | 第25-26页 |
| 2.5 电化学性能测试方法 | 第26-29页 |
| 2.5.1 循环伏安测试 | 第26-27页 |
| 2.5.2 交流阻抗分析 | 第27-28页 |
| 2.5.3 恒电流充放电测试 | 第28-29页 |
| 2.6 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 电化学还原氧化石墨烯的制备及性能研究 | 第30-46页 |
| 3.1 实验材料和仪器设备 | 第30页 |
| 3.2 实验步骤 | 第30-32页 |
| 3.2.1 基片清洗 | 第30-31页 |
| 3.2.2 薄膜制备 | 第31页 |
| 3.2.3 电化学还原过程 | 第31页 |
| 3.2.4 表征和测试 | 第31-32页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第32-36页 |
| 3.3.1 ERGO的结构表征 | 第32-35页 |
| 3.3.2 电化学参数的选择 | 第35-36页 |
| 3.4 还原过程中电化学参数的影响 | 第36-39页 |
| 3.4.1 循环电压的影响 | 第36-38页 |
| 3.4.2 循环扫描速率的影响 | 第38-39页 |
| 3.5 还原过程中电解液状态的影响 | 第39-42页 |
| 3.5.1 电解液浓度的影响 | 第39-40页 |
| 3.5.2 电解液PH值的影响 | 第40-42页 |
| 3.6 ERGO的电化学性能研 | 第42-45页 |
| 3.6.1 恒流充放电曲线 | 第42-43页 |
| 3.6.2 循环伏安曲线 | 第43-44页 |
| 3.6.3 阻抗曲线 | 第44-45页 |
| 3.7 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 ERGO/CNTs复合薄膜的制备及性能研究 | 第46-63页 |
| 4.1 引言 | 第46页 |
| 4.2 实验材料和仪器设备 | 第46-47页 |
| 4.3 实验步骤 | 第47-49页 |
| 4.3.1 基片清洗 | 第47-48页 |
| 4.3.2 薄膜制备 | 第48页 |
| 4.3.3 电化学还原过程 | 第48页 |
| 4.3.4 表征和测试 | 第48-49页 |
| 4.4 结果与讨论 | 第49-53页 |
| 4.4.1 ERGO/CNTs的结构表征 | 第49-51页 |
| 4.4.2 电化学参数的选择 | 第51-53页 |
| 4.5 还原过程中参数的影响 | 第53-56页 |
| 4.5.1 GO与CNTs的质量比对还原的影响 | 第53-55页 |
| 4.5.2 循环扫描速率的影响 | 第55-56页 |
| 4.6 ERGO/CNTs的电化学性能研究 | 第56-59页 |
| 4.6.1 恒流充放电曲线 | 第56-58页 |
| 4.6.2 循环伏安曲线 | 第58页 |
| 4.6.3 阻抗曲线 | 第58-59页 |
| 4.7 ERGO/CNTs与ERGO的电化学性能对比 | 第59-61页 |
| 4.8 本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 总结 | 第63-64页 |
| 5.2 展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第69-70页 |