Ni线纳米点结热电学性质的研究
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 引言 | 第8-20页 |
| 1.1 Ni线纳米点结的研究背景 | 第8-12页 |
| 1.1.1 Ni线点结的磁电阻特性 | 第8-10页 |
| 1.1.2 Ni纳米点结的磁电阻机理探讨及争论 | 第10-12页 |
| 1.2 温差电现象 | 第12-15页 |
| 1.2.1 汤姆孙效应 | 第12-13页 |
| 1.2.2 帕尔贴效应 | 第13-14页 |
| 1.2.3 塞贝克效应 | 第14-15页 |
| 1.3 CPP-MJs的帕尔贴效应 | 第15-17页 |
| 1.4 本文的研究内容 | 第17-18页 |
| 参考文献 | 第18-20页 |
| 第二章 样品的制备 | 第20-27页 |
| 2.1 针尖的制作 | 第20-22页 |
| 2.2 样品制作前的准备 | 第22-24页 |
| 2.3 电化学方法制作纳米点接触 | 第24-26页 |
| 参考文献 | 第26-27页 |
| 第三章 点结的分析和测试方法 | 第27-32页 |
| 3.1 点结的扫描电子显微镜(SEM)表征 | 第27-28页 |
| 3.2 点结的I-V特性测量 | 第28-31页 |
| 3.3 点结的塞贝克效应测量 | 第31页 |
| 参考文献 | 第31-32页 |
| 第四章 点结的I-V特性与热电效应 | 第32-45页 |
| 4.1 纳米点接触的形成分析 | 第32-35页 |
| 4.2 点结的I-V特性分析 | 第35-41页 |
| 4.2.1 点结I-V特性的磁场相关性 | 第35-38页 |
| 4.2.2 点结I-V特性的磁各向异性 | 第38-40页 |
| 4.2.3 点结I-V特性的尺寸效应 | 第40-41页 |
| 4.3 点结的塞贝克效应分析 | 第41-43页 |
| 4.4 小结 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-45页 |
| 第五章 “Γ”形Ni线的热电效应 | 第45-53页 |
| 5.1 “Γ”形Ni线热电效应的测量与分析 | 第45-49页 |
| 5.2 “一”形Ni线热电效应的测量与分析 | 第49-51页 |
| 5.3 小结 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-53页 |
| 第六章 结论 | 第53-55页 |
| 攻读硕士期间公开发表的论文 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
