| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 序言 | 第10页 |
| 1.2 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3.1 国内残余应力检测研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3.2 国外残余应力检测研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3.3 研究现状总结 | 第14页 |
| 1.4 课题研究内容 | 第14页 |
| 1.5 论文拟解决的关键问题 | 第14-16页 |
| 1.5.1 衍射峰峰位差异分析 | 第14-15页 |
| 1.5.2 建立数据后处理方法 | 第15页 |
| 1.5.3 X射线衍射法检测参数优化 | 第15页 |
| 1.5.4 检测结果准确度评价 | 第15-16页 |
| 第2章 X射线衍射法残余应力检测技术概述 | 第16-24页 |
| 2.1 序言 | 第16页 |
| 2.2 X射线衍射法检测原理概述 | 第16-18页 |
| 2.2.1 X射线衍射图样信息解读 | 第16页 |
| 2.2.2 X射线衍射法检测原理 | 第16-18页 |
| 2.3 X射线衍射法检测参数 | 第18-22页 |
| 2.4 实验设备 | 第22-23页 |
| 2.5 小结 | 第23-24页 |
| 第3章 标准应力样品体系建立 | 第24-34页 |
| 3.1 序言 | 第24页 |
| 3.2 预应力样品设计 | 第24-25页 |
| 3.3 悬臂式等强度梁设计 | 第25-29页 |
| 3.3.1 悬臂梁应力分布的有限元分析 | 第25-28页 |
| 3.3.2 悬臂式等强度梁应力检测 | 第28-29页 |
| 3.4 新型梁设计 | 第29-33页 |
| 3.4.1 新型梁应力分布有限元分析 | 第30-32页 |
| 3.4.2 新型梁样品应力检测 | 第32-33页 |
| 3.5 小结 | 第33-34页 |
| 第4章 焊接接头残余应力检测 | 第34-55页 |
| 4.1 序言 | 第34页 |
| 4.2 X射线衍射法基本检测参数确定及准确度标定 | 第34-40页 |
| 4.2.1 X射线衍射法衍射晶面及靶材选取 | 第34-39页 |
| 4.2.2 基本检测参数条件下X射线衍射法准确度标定 | 第39-40页 |
| 4.3 组织观察 | 第40-44页 |
| 4.4 X射线衍射法检测参数优化 | 第44-46页 |
| 4.5 检测参数优化结果验证 | 第46-48页 |
| 4.6 X射线衍射法与散斑法检测结果对比 | 第48-54页 |
| 4.6.1 表面调控后板材应力检测结果对比 | 第48-49页 |
| 4.6.2 表面调控后焊接接头应力检测结果对比 | 第49-53页 |
| 4.6.3 表面未调控焊接接头残余应力检测结果对比 | 第53-54页 |
| 4.7 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 误差来源判定及分析 | 第55-80页 |
| 5.1 序言 | 第55页 |
| 5.2 极距角偏差对测试误差的影响判定 | 第55-61页 |
| 5.2.1 单探测器工况下△ψ对残余应力测试结果的影响分析 | 第55-58页 |
| 5.2.2 双探测器工况下△ψ对残余应力测试结果的影响分析 | 第58-59页 |
| 5.2.3 分析结果实验验证 | 第59-61页 |
| 5.3 X射线衍射峰峰位差异对测试误差的影响判定 | 第61-66页 |
| 5.3.1 不同组织的衍射峰位比较 | 第62页 |
| 5.3.2 峰位差异分析 | 第62-66页 |
| 5.4 热影响区微观状态对测试误差的影响分析 | 第66-72页 |
| 5.4.1 跨区域测试对测试结果影响分析 | 第66页 |
| 5.4.2 微观应变对测试结果影响分析 | 第66-72页 |
| 5.5 表面状态对测试误差的影响分析 | 第72-79页 |
| 5.5.1 焊缝余高对测试结果的影响分析 | 第72-74页 |
| 5.5.2 表面损伤层对测试结果的影响分析 | 第74-75页 |
| 5.5.3 包铝层对检测结果的影响分析 | 第75-79页 |
| 5.6 小结 | 第79-80页 |
| 结论 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86页 |
