| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-21页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第14-17页 |
| 1.2 邻频系统现有解决方案 | 第17-19页 |
| 1.2.1 方案一：5MHz隔离带宽合路器 | 第17-18页 |
| 1.2.2 方案二：3d B电桥 | 第18-19页 |
| 1.3 主要内容及本文结构 | 第19-20页 |
| 1.4 本章总结 | 第20-21页 |
| 第二章 移动通信系统干扰原理 | 第21-32页 |
| 2.1 杂散干扰 | 第21-23页 |
| 2.2 阻塞干扰 | 第23-24页 |
| 2.3 互调干扰 | 第24-25页 |
| 2.4 收发机干扰控制指标 | 第25-31页 |
| 2.4.1 频谱辐射模板（SEM） | 第26页 |
| 2.4.2 邻道泄露比（ACLR） | 第26-27页 |
| 2.4.3 邻道选择性（ACS） | 第27-28页 |
| 2.4.4 接收灵敏度 | 第28-31页 |
| 2.5 本章总结 | 第31-32页 |
| 第三章 合路共址系统间干扰研究 | 第32-40页 |
| 3.1 合路共址系统结构 | 第32-33页 |
| 3.2 共址合路干扰分析 | 第33-36页 |
| 3.2.1 干扰基站发射对被干扰基站发射的影响 | 第34-35页 |
| 3.2.2 干扰基站发射对被干扰基站接收的影响 | 第35页 |
| 3.2.3 干扰终端发射对被干扰基站接收的影响 | 第35-36页 |
| 3.2.4 干扰终端发射对被干扰基站发射的影响 | 第36页 |
| 3.3 共址合路隔离度要求 | 第36-39页 |
| 3.3.1 基站杂散和阻塞控制指标 | 第36-37页 |
| 3.3.2 杂散干扰对隔离度要求 | 第37-38页 |
| 3.3.3 阻塞干扰对隔离度要求 | 第38-39页 |
| 3.3.4 最终隔离度要求 | 第39页 |
| 3.4 本章总结 | 第39-40页 |
| 第四章 邻频合路技术研究 | 第40-71页 |
| 4.1 共址邻频合路 | 第40-43页 |
| 4.1.1 邻频关系 | 第40-41页 |
| 4.1.2 现有邻频系统合路方案分析 | 第41-43页 |
| 4.2 邻频合路技术实现手段 | 第43-68页 |
| 4.2.1 降低邻频合路隔离度要求 | 第43-59页 |
| 4.2.2 放宽边缘插入损耗 | 第59-62页 |
| 4.2.3 最小隔离带宽设计 | 第62-68页 |
| 4.3 邻频合路器设计 | 第68-70页 |
| 4.3.1 联通LTE 1.8GHz和电信LTE 1.8GHz邻频 | 第69-70页 |
| 4.3.2 联通DCS1800和联通LTE 1.8GHz邻频 | 第70页 |
| 4.3.3 电信LTE 2.1GHz和联通WCDMA邻频 | 第70页 |
| 4.4 本章总结 | 第70-71页 |
| 第五章 1.8GHZ邻频合路器设计与实现 | 第71-91页 |
| 5.1 软件模拟仿真 | 第71-74页 |
| 5.2 实验室模拟隔离度验证 | 第74-81页 |
| 5.2.1 影响因子的理论分析 | 第74-75页 |
| 5.2.2 测试需求分析 | 第75页 |
| 5.2.3 测试配置信息 | 第75页 |
| 5.2.4 测试环境及组网 | 第75-77页 |
| 5.2.5 测试内容及结果 | 第77-81页 |
| 5.2.6 测试结论 | 第81页 |
| 5.3 实验室样品性能测试 | 第81-88页 |
| 5.3.1 邻频合路器关键指标的确定 | 第81-82页 |
| 5.3.2 样品电气性能指标测试 | 第82-88页 |
| 5.4 现网样品性能测试 | 第88-90页 |
| 5.4.1 测试内容 | 第88页 |
| 5.4.2 测试环境 | 第88-89页 |
| 5.4.3 测试结果 | 第89-90页 |
| 5.4.4 测试结论 | 第90页 |
| 5.5 本章总结 | 第90-91页 |
| 总结与展望 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-99页 |
| 致谢 | 第99页 |
