| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 相变的分类 | 第9-11页 |
| 1.3 一级固态相变的特征 | 第11-15页 |
| 1.4 VO_2介绍 | 第15-18页 |
| 1.4.1 VO_2的基本性质和应用 | 第15页 |
| 1.4.2 VO_2(A)的研究进展 | 第15-18页 |
| 1.5 本论文的研究内容、目的及意义 | 第18-19页 |
| 第二章 主要研究方法和技术 | 第19-33页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 透射电镜技术简介 | 第19-23页 |
| 2.2.1 电子与物质的相互作用 | 第19-20页 |
| 2.2.2 透射电镜的基本结构 | 第20-22页 |
| 2.2.3 分析电镜的优势 | 第22-23页 |
| 2.3 透射电镜的分析功能及其原理 | 第23-28页 |
| 2.3.1 传统透射电子显徽学(CTEM) | 第23-26页 |
| 2.3.2 扫描透射电子显微学(STEM) | 第26-28页 |
| 2.4 透射电子显微镜设备简介 | 第28页 |
| 2.5 原位透射电子显微学 | 第28-33页 |
| 2.5.1 原位透射电子显微学简介 | 第28-29页 |
| 2.5.2 DENSsolutions Wildfire D6双倾加热样品杆介绍 | 第29-33页 |
| 第三章 VO_2(A)纳米线相变过程的透射电镜原位观察 | 第33-41页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 VO_2(A)纳米线的合成 | 第33-34页 |
| 3.3 纳米线表征与原位加热实验 | 第34页 |
| 3.4 VO_2(A)相变机理研究 | 第34-36页 |
| 3.4.1 VO_2(A)纳米线的结构表征 | 第34-35页 |
| 3.4.2 TEM下VO_2(A)纳米线的原位加热相变 | 第35页 |
| 3.4.3 VO_2(A)原子尺度相界面分析 | 第35-36页 |
| 3.5 原位TEM观察缺陷对相变的影响 | 第36-39页 |
| 3.5.1 原位TEM观察低温相缺陷对相变的影响 | 第37-38页 |
| 3.5.2 原位TEM观察高温相缺陷对相变的影响 | 第38-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 高低温相缺陷处STEM-HAADF观测 | 第41-53页 |
| 4.1 引言 | 第41页 |
| 4.2 高低温相的关系 | 第41-45页 |
| 4.2.1 高低温相单胞的重新定义 | 第41-42页 |
| 4.2.2 高低温相(001)面的定义及对应的HAADF像 | 第42-43页 |
| 4.2.3 高温相(x-,y-)和(x+,y+)两种形式的关系 | 第43-45页 |
| 4.3 缺陷处的HAADF观测 | 第45-50页 |
| 4.3.1 高温相中存在的缺陷 | 第45-47页 |
| 4.3.2 低温相中存在的偶数层层数的缺陷 | 第47-49页 |
| 4.3.3 低温相中存在的奇数层层数的缺陷 | 第49-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-53页 |
| 第五章 缺陷的形成 | 第53-59页 |
| 5.1 引言 | 第53页 |
| 5.2 低温相缺陷产生的HRTEM图观测 | 第53-54页 |
| 5.3 没有高温相缺陷产生的HAADF观测 | 第54-55页 |
| 5.4 高低温相中的缺陷形成机理 | 第55-56页 |
| 5.5 本章小结 | 第56-59页 |
| 第六章 结论与展望 | 第59-63页 |
| 6.1 主要研究成果 | 第59-60页 |
| 6.2 展望 | 第60-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 个人简历 | 第69-71页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及取得的其他研究成果 | 第71页 |
