| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 本课题研究的研究目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外的研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第14-15页 |
| 1.4 本章小结 | 第15-16页 |
| 第2章 多光谱辐射测温法反演介质表面温度 | 第16-29页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 热辐射理论 | 第16-18页 |
| 2.3 多光谱辐射测温中数据拟合原理及应用 | 第18-22页 |
| 2.3.1 多光谱辐射测温技术中数据处理方法 | 第18-20页 |
| 2.3.2 改进的线性最小二乘技术 | 第20-22页 |
| 2.4 多光谱辐射测温法求解介质表面温度 | 第22-25页 |
| 2.4.1 ε(λ)=exp(a_0λ~(1/2))发射率模型 | 第22-23页 |
| 2.4.2 ε(λ)=exp(a_0+a_1λ+a_2λ~2)和ε(λ)=exp(a_0λ~(1/2)+a_1λ) 发射率模型 | 第23-25页 |
| 2.5 求解考虑环境辐射的介质表面温度的曲线拟合法 | 第25-28页 |
| 2.6 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 二维半透明介质的表观光谱辐射特性的反向蒙特卡洛法及其温度反演 | 第29-52页 |
| 3.1 蒙特卡洛法求解辐射传输过程的原理 | 第29-32页 |
| 3.1.1 光束传播距离的概率模型 | 第29-30页 |
| 3.1.2 壁面吸收或者反射的概率模型 | 第30页 |
| 3.1.3 梯度折射率介质层之间的反射折射概率模型 | 第30-32页 |
| 3.2 二维半透明介质表观辐射信号反演温度理论 | 第32-37页 |
| 3.2.1 求解二维介质内表观辐射信号的反向蒙特卡洛法 | 第32-35页 |
| 3.2.2 二维介质表观辐射力 | 第35-36页 |
| 3.2.3 表观辐射力反演介质温度原理 | 第36-37页 |
| 3.3 二维非均匀介质物理模型 | 第37-38页 |
| 3.4 模型验证 | 第38-39页 |
| 3.5 二维介质表观光谱辐射强度 | 第39-42页 |
| 3.5.1 四周壁面均为半透明壁面 | 第39-41页 |
| 3.5.2 四周壁面含有不透明壁面 | 第41-42页 |
| 3.6 二维介质模型的半球辐射力 | 第42-47页 |
| 3.6.1 边界特性的影响 | 第42-44页 |
| 3.6.2 检测位置的影响 | 第44-45页 |
| 3.6.3 介质折射率和反照率的影响 | 第45-47页 |
| 3.6.4 温度分布的影响 | 第47页 |
| 3.7 二维介质模型温度反演 | 第47-50页 |
| 3.7.1 均匀折射率分布介质 | 第48-49页 |
| 3.7.2 梯度折射率分布介质 | 第49-50页 |
| 3.8 本章小结 | 第50-52页 |
| 第4章 矢量蒙特卡洛法求解一维半透明介质表观发射特性 | 第52-62页 |
| 4.1 引言 | 第52页 |
| 4.2 物理模型 | 第52-54页 |
| 4.3 模型验证 | 第54-55页 |
| 4.4 一维均匀平板介质表观发射 | 第55-59页 |
| 4.4.1 温度分布的影响 | 第55-56页 |
| 4.4.2 光学厚度的影响 | 第56-57页 |
| 4.4.3 介质反照率的影响 | 第57-58页 |
| 4.4.4 介质折射率的影响 | 第58-59页 |
| 4.5 一维梯度折射率平板介质表观发射 | 第59-61页 |
| 4.5.1 非散射介质表观发射 | 第59页 |
| 4.5.2 散射介质表观发射 | 第59-61页 |
| 4.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 研究展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
