摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 课题的来源与意义 | 第10页 |
1.2 应力应变集中的产生原因及其危害 | 第10-11页 |
1.3 应变集中测试技术的研究现状 | 第11-12页 |
1.4 激光散斑测微技术的发展与应用现状 | 第12-15页 |
1.4.1 散斑成因及激光散斑测微技术的基本原理 | 第12页 |
1.4.2 激光散斑测微技术的产生与发展历程 | 第12-13页 |
1.4.3 三种数字化的激光散斑测试技术的对比 | 第13-14页 |
1.4.4 激光散斑测微技术的国内外研究现状 | 第14-15页 |
1.5 论文的主要工作和内容 | 第15-16页 |
第2章 激光散斑应变测试光学-机械系统 | 第16-30页 |
2.1 激光散斑干涉法应变测试原理 | 第16-20页 |
2.1.1 两种典型的激光散斑干涉测量光路 | 第16-18页 |
2.1.2 激光散斑干涉法应变测试光学函数表达式推导 | 第18-20页 |
2.2 激光散斑干涉法应变测试激光光路系统的构建 | 第20-24页 |
2.2.1 适用于激光散斑应变测试的激光发生装置 | 第20-21页 |
2.2.2 基于光纤传输原理的激光干涉光学系统 | 第21-22页 |
2.2.3 散斑图像采集设备的构建 | 第22-24页 |
2.3 典型应变集中试件加载装置的构建 | 第24-27页 |
2.3.1 应变集中试件的制作 | 第24页 |
2.3.2 试件加载装置的制作 | 第24-27页 |
2.4 激光散斑干涉法应变测试光学-机械系统的集成 | 第27-29页 |
2.5 本章小结 | 第29-30页 |
第3章 散斑干涉条纹获取技术研究 | 第30-44页 |
3.1 散斑干涉条纹的基本性质 | 第30页 |
3.2 数字图像计算机处理技术简介 | 第30-32页 |
3.2.1 数字图像的基本概念 | 第30-31页 |
3.2.2 数字图像处理的基本方法 | 第31页 |
3.2.3 用于数字图像处理的编程软件及编程方法 | 第31-32页 |
3.3 散斑图像采集与散斑干涉条纹图的获取 | 第32-36页 |
3.3.1 散斑图像的采集 | 第32-34页 |
3.3.2 散斑干涉条纹图的获取 | 第34-36页 |
3.4 提高散斑干涉条纹质量的图像处理技术研究 | 第36-43页 |
3.4.1 提高条纹对比度的图像增强技术 | 第36-41页 |
3.4.2 抑制高频随机信号的图像滤波技术 | 第41-43页 |
3.5 本章小结 | 第43-44页 |
第4章 相位分析及应变集中状态获取技术研究 | 第44-55页 |
4.1 基于条纹中心法的应变全场分布信息的获取技术 | 第44页 |
4.2 DSPI 条纹图的二值化技术研究 | 第44-48页 |
4.2.1 条纹图的二值化 | 第44-45页 |
4.2.2 DSPI 二值条纹图的形态学处理 | 第45-48页 |
4.3 DSPI 条纹中心线的提取技术研究 | 第48-53页 |
4.3.1 二值条纹图的细化处理 | 第48-49页 |
4.3.2 DSPI 条纹中心线去除分叉和桥连的算法 | 第49-52页 |
4.3.3 DSPI 条纹中心线的平滑处理 | 第52-53页 |
4.4 反映应变集中状态的应变全场分布云图的构建 | 第53-54页 |
4.5 本章小结 | 第54-55页 |
第5章 激光散斑应变集中测试试验研究 | 第55-68页 |
5.1 带有机加工余高试件的应变集中状态研究 | 第55-59页 |
5.1.1 机加工余高试件应变集中状态的激光散斑法测试 | 第55-57页 |
5.1.2 带有机加工余高试件应变集中状态的有限元计算 | 第57-59页 |
5.2 带有焊缝余高的焊接接头应变集中测试试验 | 第59-61页 |
5.3 带有典型缺陷试件的应变集中测试试验 | 第61-67页 |
5.3.1 气孔缺陷应变集中状态的激光散斑法测试分析 | 第61页 |
5.3.2 气孔缺陷应变集中状态的有限元法分析 | 第61-63页 |
5.3.3 未焊透缺陷应变集中状态的激光散斑法测试分析 | 第63-65页 |
5.3.4 未焊透缺陷应变集中状态的有限元法分析 | 第65-67页 |
5.4 本章小结 | 第67-68页 |
结论 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-74页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第74-75页 |
致谢 | 第75页 |