摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-26页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
1.2 NAND Flash研究现状和分析 | 第9-22页 |
1.2.1 存储器单元结构 | 第9-13页 |
1.2.2 存储器的访问控制 | 第13-14页 |
1.2.3 NAND Flash错误构成及分析 | 第14-22页 |
1.3 NAND Flash存储性能优化策略研究现状 | 第22-24页 |
1.4 论文主要研究内容及结构 | 第24-26页 |
第2章 NAND Flash错误特性建模 | 第26-42页 |
2.1 引言 | 第26页 |
2.2 测试数据的获取 | 第26-30页 |
2.2.1 实验平台简介 | 第26-28页 |
2.2.2 实验数据采集设计 | 第28-30页 |
2.3 错误特征数据建模 | 第30-37页 |
2.3.1 多项式方法建模 | 第30-34页 |
2.3.2 智能算法建模 | 第34-37页 |
2.4 模型评价及分析 | 第37-41页 |
2.5 本章小结 | 第41-42页 |
第3章 延长NAND Flash数据可靠存储时间管理策略 | 第42-56页 |
3.1 引言 | 第42页 |
3.2 错误位置固定度分析 | 第42-45页 |
3.3 延长NAND Flash数据可靠存储时间管理策略 | 第45-50页 |
3.3.1 可靠存储时间长度获取 | 第45-46页 |
3.3.2 异地更新/延长数据保存周期 | 第46-48页 |
3.3.3 读取过程中错误的位置信息保存和更新 | 第48-50页 |
3.4 实验验证与分析 | 第50-55页 |
3.4.1 延长数据存储时间评估 | 第50-52页 |
3.4.2 额外存储负荷评估 | 第52-54页 |
3.4.3 I/O吞吐率评估 | 第54-55页 |
3.5 本章小结 | 第55-56页 |
第4章 自适应混合ECC编解码策略 | 第56-68页 |
4.1 引言 | 第56页 |
4.2 页可靠性差异特性分析 | 第56-58页 |
4.3 混合ECC编解码策略 | 第58-63页 |
4.3.1 编码自适应策略 | 第59-61页 |
4.3.2 解码自适应策略 | 第61-63页 |
4.4 实验验证与分析 | 第63-67页 |
4.4.1 延时负荷评估 | 第64-65页 |
4.4.2 存储负荷评估 | 第65-67页 |
4.5 本章小结 | 第67-68页 |
结论 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-77页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第77-79页 |
致谢 | 第79-80页 |