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高性能图像压缩芯片的验证和测试

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-16页
第一章 绪论第16-20页
    1.1 引言第16页
    1.2 航天航空领域图像压缩现状第16-17页
    1.3 本文主要创新点和难点第17页
    1.4 选题背景及论文内容安排第17-20页
第二章 验证方法学第20-24页
    2.1 集成电路开发流程第20-21页
    2.2 集成电路验证分类第21-22页
        2.2.1 功能验证第21页
        2.2.2 形式验证第21-22页
        2.2.3 时序验证第22页
        2.2.4 物理验证第22页
    2.3 集成电路测试分类第22-23页
        2.3.1 特性测试第22页
        2.3.2 制造测试第22-23页
        2.3.3 成品测试第23页
        2.3.4 可靠性测试第23页
    2.4 集成电路验证测试的重要性第23-24页
第三章 高性能图像压缩芯片功能验证第24-34页
    3.1 高性能图像压缩芯片算法简介第24页
    3.2 高性能图像压缩芯片架构第24-25页
    3.3 功能仿真验证第25-32页
        3.3.1 配置接.测试第25-27页
        3.3.2 相机接.测试第27-29页
        3.3.3 码流输出接.测试向量第29-30页
        3.3.4 压缩核测试向量第30-31页
        3.3.5 芯片工作频率测试第31-32页
        3.3.6 芯片外挂存储测试第32页
        3.3.7 芯片异步时序测试第32页
    3.4 覆盖率统计第32-33页
    3.5 实测结果第33-34页
第四章 静态时序分析和时序仿真验证第34-52页
    4.1 静态时序分析概述第34页
    4.2 PrimeTime静态时序分析的基本流程第34-35页
    4.3 时序路径分类及路径延迟计算第35-38页
        4.3.1 时序路径分类第35-36页
        4.3.2 路径延迟计算第36-38页
    4.4 静态时序分析环境搭建第38-39页
    4.5 静态时序分析第39-40页
    4.6 时序仿真验证第40-52页
        4.6.1 PLL工作时序第41-43页
        4.6.2 相机接.工作时序第43-44页
        4.6.3 SDRAM接.工作时序第44-48页
        4.6.4 码流输出接.工作时序第48页
        4.6.5 内部电路工作时序第48-49页
        4.6.6 三种不同单元库下SDRAM时序比较第49-52页
第五章 单粒子效应模拟测试第52-72页
    5.1 单粒子效应简介第52-53页
        5.1.1 空间辐射环境第52页
        5.1.2 单粒子效应分类第52-53页
    5.2 单粒子效应测试的必要性第53页
    5.3 单粒子测试系统简介第53-54页
        5.3.1 系统组成第53-54页
        5.3.2 工作原理第54页
    5.4 芯片工作状态第54-55页
        5.4.1 供电方式第54页
        5.4.2 芯片工作参数第54-55页
    5.5 FPGA系统设计第55-65页
        5.5.1 CF卡接.控制第55-58页
        5.5.2 SRAM接.控制第58-59页
        5.5.3 图像接收比较单元第59页
        5.5.4 温度传感器控制第59-60页
        5.5.5 命令解析/发送第60-61页
        5.5.6 UART接第61-62页
        5.5.7 芯片GPIO接第62-63页
        5.5.8 图像数据输入接第63-64页
        5.5.9 码流数据输出接第64-65页
    5.6 单粒子效应实验第65-70页
        5.6.1 单粒子效应实验环境简介第65-66页
        5.6.2 单粒子效应实验过程第66-68页
        5.6.3 检测PC机实时显示芯片运行状况第68-69页
        5.6.4 软件分析实验结果第69-70页
    5.7 实验结论第70-72页
第六章 总结和展望第72-74页
    6.1 研究总结第72页
    6.2 研究展望第72-74页
参考文献第74-76页
致谢第76-78页
作者简介第78-79页

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