摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 引言 | 第7-15页 |
1.1 概述 | 第7-13页 |
1.1.1 ADC芯片的电路原理 | 第7-11页 |
1.1.2 ADC关键技术及其发展趋势 | 第11-12页 |
1.1.3 进行ADC性能参数测试的必要性 | 第12-13页 |
1.2 国内外研究现状及本论文的创新点 | 第13-14页 |
1.3 论文的组织安排 | 第14-15页 |
第二章 傅里叶变换和采样定理 | 第15-37页 |
2.1 基于DSP的测试 | 第15页 |
2.2 傅里叶变换 | 第15-24页 |
2.2.1 三角傅里叶级数 | 第15-18页 |
2.2.2 离散时间傅里叶级数 | 第18-22页 |
2.2.3 离散傅里叶变换(DFT) | 第22-23页 |
2.2.4 快速傅里叶变换(FFT) | 第23-24页 |
2.3 Nyquist采样定理 | 第24-27页 |
2.4 相关采样(Coherent Sampling) | 第27-31页 |
2.5 窗函数 | 第31-37页 |
第三章 ADC相关测试指标及方法 | 第37-60页 |
3.1 ADC静态性能参数 | 第37-46页 |
3.2 ADC动态性能参数 | 第46-50页 |
3.3 ADC代码边沿的测量 | 第50-57页 |
3.3.1 伺服方法 | 第51-52页 |
3.3.2 线性斜波直方图方法 | 第52-54页 |
3.3.3 正弦直方图方法 | 第54-57页 |
3.4 时钟抖动及其对ADC信噪比的影响 | 第57-60页 |
第四章 被测器件AD7626参数指标及其应用电路介绍 | 第60-69页 |
4.1 AD7626简介 | 第60-61页 |
4.2 AD7626性能参数 | 第61-62页 |
4.3 AD7626工作原理 | 第62-69页 |
4.3.1 工作流程 | 第62页 |
4.3.2 传递函数 | 第62-63页 |
4.3.3 模拟输入 | 第63-64页 |
4.3.4 输入驱动 | 第64-65页 |
4.3.5 基准电压选项 | 第65-66页 |
4.3.6 数字接口 | 第66-69页 |
第五章 ATE测试流程和测试设备简介 | 第69-77页 |
5.1 为什么要进行混合信号器件测试 | 第69页 |
5.2 ATE测试的分类 | 第69-70页 |
5.3 ATE测试开发流程 | 第70-72页 |
5.4 ATE测试系统介绍 | 第72-77页 |
第六章 测试方案实现 | 第77-86页 |
6.1 电源方案设计 | 第77-78页 |
6.2 数字管脚方案设计 | 第78-81页 |
6.3 参考电压方案设计 | 第81-82页 |
6.4 模拟输入方案设计 | 第82-83页 |
6.5 时钟输入方案设计 | 第83-86页 |
第七章 测试数据与分析 | 第86-91页 |
7.1 静态参数测试 | 第86-87页 |
7.2 动态参数测试 | 第87-90页 |
7.3 实验小结 | 第90-91页 |
第八章 结束语 | 第91-93页 |
8.1 小结 | 第91页 |
8.2 存在的问题和后续可能的改进措施 | 第91-93页 |
参考文献 | 第93-95页 |
致谢 | 第95-96页 |