| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第13-37页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第13页 |
| 1.2 二维纳米片的合成与应用 | 第13-31页 |
| 1.2.1 二维纳米片的合成方法简介 | 第13-20页 |
| 1.2.1.1 机械剥离法（Mechanical Cleavage） | 第14-15页 |
| 1.2.1.2 电化学锂插层和剥离（Electrochemical Li-intercalation and Exfoliation）法 | 第15-16页 |
| 1.2.1.3 溶剂中声波降解（Sonication in Various Solvents）法 | 第16-17页 |
| 1.2.1.4 化学气相沉积（CVD）法 | 第17-18页 |
| 1.2.1.5 金属纳米片的合成进展 | 第18-20页 |
| 1.2.2 贵金属纳米片的应用 | 第20-26页 |
| 1.2.2.1 局域表面等离子体共振（LSPR） | 第20-22页 |
| 1.2.2.2 表面增强拉曼散射（SERS）效应 | 第22-25页 |
| 1.2.2.3 光热转换效应 | 第25-26页 |
| 1.2.3 半导体纳米片的应用 | 第26-31页 |
| 1.2.3.1 光伏效应 | 第26-30页 |
| 1.2.3.2 硫属银化合物半导体的电学性能 | 第30-31页 |
| 1.3 纳米粒子的组装 | 第31-34页 |
| 1.3.1 自组装方法 | 第32-33页 |
| 1.3.2 纳米材料组装及应用 | 第33-34页 |
| 1.4 本论文的研究目的和主要研究内容 | 第34-37页 |
| 1.4.1 本论文的研究目的 | 第34-35页 |
| 1.4.2 本论文的主要研究内容 | 第35-37页 |
| 第2章 银、金-银合金纳米片的合成、组装、原位转换及光电性能研究 | 第37-70页 |
| 2.1 引言 | 第37-39页 |
| 2.2 实验部分 | 第39-45页 |
| 2.2.1 试剂、材料及仪器 | 第39-40页 |
| 2.2.2 合成路线设计 | 第40-41页 |
| 2.2.2.1 Ag纳米片/纳米带的合成路线 | 第40页 |
| 2.2.2.2 Au-Ag合金微纳结构的合成路线 | 第40页 |
| 2.2.2.3 Ag@CdS核壳纳米片的合成路线 | 第40-41页 |
| 2.2.3 样品制备 | 第41-44页 |
| 2.2.3.1 Ag纳米片/纳米带的制备 | 第41-42页 |
| 2.2.3.2 Ag纳米片的组装 | 第42-43页 |
| 2.2.3.3 Au-Ag合金纳米片/纳米环的制备 | 第43页 |
| 2.2.3.4 Ag@CdS核壳纳米片的制备 | 第43-44页 |
| 2.2.4 样品表征 | 第44-45页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第45-68页 |
| 2.3.1 物相、形貌与光学性质分析 | 第45-57页 |
| 2.3.2 有限元（FEM）法计算模拟分析与讨论 | 第57-59页 |
| 2.3.3 光热转换效应分析与讨论 | 第59-63页 |
| 2.3.4 表面增强拉曼散射（SERS）效应应用与讨论 | 第63-67页 |
| 2.3.5 Ag@CdS核壳纳米片的光还原产氢与讨论 | 第67-68页 |
| 2.4 本章小结 | 第68-70页 |
| 第3章 半导体纳米片/纳米带在衬底上的原位形貌调控合成与组装 | 第70-96页 |
| 3.1 引言 | 第70-72页 |
| 3.2 实验部分 | 第72-78页 |
| 3.2.1 试剂、材料及仪器 | 第72页 |
| 3.2.2 半导体纳米片/纳米带的合成路线 | 第72-73页 |
| 3.2.3 样品制备 | 第73-76页 |
| 3.2.3.1 半导体CdS纳米片/带及其薄膜的制备 | 第73-74页 |
| 3.2.3.2 半导体CdTe纳米片/带及其薄膜的制备 | 第74-75页 |
| 3.2.3.3 非化学计量比的结晶Ag_(2-δ)Te纳米片/带及其薄膜的制备 | 第75-76页 |
| 3.2.4 样品表征 | 第76-78页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第78-94页 |
| 3.3.1 物相与形貌分析 | 第78-91页 |
| 3.3.2 X射线光电子能谱（XPS）和能力色散谱（EDS）分析与讨论 | 第91-94页 |
| 3.4 本章小结 | 第94-96页 |
| 第4章 半导体纳米片/纳米带及其组装膜的光电、力学性能研究 | 第96-116页 |
| 4.1 引言 | 第96页 |
| 4.2 实验部分 | 第96-100页 |
| 4.2.1 AFM测试在导电衬底上的单个CdX纳米片/带的I-V曲线 | 第96-97页 |
| 4.2.2 PW-600探针台测试刚性/柔性导电衬底上的c-Ag_(2-δ)Te和CdX纳米片薄膜的I-V曲线 | 第97-98页 |
| 4.2.3 Keithley 2400数字源表测试刚性/柔性导电衬底上的CdX纳米片薄膜的光电导和光响应 | 第98-99页 |
| 4.2.4 c-Ag_(2-δ)Te纳米片薄膜的霍尔效应和磁输运性能测试 | 第99-100页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第100-114页 |
| 4.3.1 c-Ag_(2-δ)X纳米片薄膜增强的电学性能 | 第100-104页 |
| 4.3.2 CdX纳米片薄膜增强的光电性能 | 第104-114页 |
| 4.4 本章小结 | 第114-116页 |
| 结论 | 第116-119页 |
| 参考文献 | 第119-141页 |
| 附录 | 第141-142页 |
| 攻读学位期间发表的论文与研究成果清单 | 第142-144页 |
| 致谢 | 第144-146页 |
| 个人简介 | 第146页 |
