| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题的研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 太赫兹波段偏振器件的研究现状 | 第9-13页 |
| 1.2.1 太赫兹波段的液晶偏振片 | 第10-11页 |
| 1.2.2 金属线栅偏振器 | 第11-12页 |
| 1.2.3 立方体硅片堆结构偏振器 | 第12-13页 |
| 1.3 论文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 太赫兹波段硅片组偏振器的设计 | 第15-26页 |
| 2.1 光的偏振及硅片组偏振件的设计理论 | 第15-20页 |
| 2.1.1 光的偏振理论 | 第15页 |
| 2.1.2 马吕斯定律 | 第15-17页 |
| 2.1.3 硅片组偏振器设计的理论背景 | 第17-20页 |
| 2.2 太赫兹波段硅片组偏振器件的设计 | 第20-25页 |
| 2.2.1 太赫兹波段的透射材料 | 第20-22页 |
| 2.2.2 硅片组偏振器件设计的理论分析 | 第22-25页 |
| 2.3 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 硅片组偏振器件的性能测试 | 第26-46页 |
| 3.1 太赫兹时域光谱系统 | 第26-29页 |
| 3.1.1 太赫兹发射元件 | 第26-28页 |
| 3.1.2 太赫兹探测元件 | 第28-29页 |
| 3.2 硅片组偏振器测试实验的透射型太赫兹时域光谱系统 | 第29-30页 |
| 3.3 其他类型的太赫兹时域光谱系统 | 第30-31页 |
| 3.4 测试实验光谱的采集 | 第31-32页 |
| 3.5 硅片组偏振器件的性能测试实验 | 第32-42页 |
| 3.5.1 硅片组偏振器及固定支架的设计 | 第32-34页 |
| 3.5.2 硅片组偏振器性能测试及结果分析 | 第34-40页 |
| 3.5.3 实验结果的误差分析 | 第40-42页 |
| 3.6 数据处理过程的优化 | 第42-45页 |
| 3.7 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 硅片组偏振器在油品检测中的应用 | 第46-54页 |
| 4.1 分子的手性特征和物质的旋光性 | 第46-47页 |
| 4.2 样品简介及制备 | 第47-48页 |
| 4.3 实验方法 | 第48-49页 |
| 4.4 试验及结果分析 | 第49-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-57页 |
| 5.1 全文总结 | 第54-55页 |
| 5.2 前景展望 | 第55-57页 |
| 5.2.1 研究中的难点 | 第55-56页 |
| 5.2.2 展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |