基于广义散射矩阵的周期性波导结构的泄漏特性研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·研究背景和意义 | 第10-11页 |
| ·研究现状及现有的研究方法 | 第11-17页 |
| ·SIW研究现状 | 第11-13页 |
| ·漏波天线研究现状 | 第13-14页 |
| ·左手传输线研究现状 | 第14页 |
| ·现有研究周期结构的方法 | 第14-17页 |
| ·本文的主要贡献 | 第17-18页 |
| ·本文的结构安排 | 第18-20页 |
| 第二章 周期性波导理论介绍 | 第20-42页 |
| ·基片集成波导理论 | 第20-28页 |
| ·基本结构 | 第20-21页 |
| ·传播特性 | 第21-26页 |
| ·损耗特性 | 第26-28页 |
| ·泄漏波天线理论 | 第28-30页 |
| ·左手传输线理论 | 第30-32页 |
| ·传输线等效电路模型和色散特性 | 第30-31页 |
| ·左手传输线周期结构 | 第31-32页 |
| ·周期结构分析方法 | 第32-40页 |
| ·全波分析矩量法 | 第32-34页 |
| ·BI-RME方法 | 第34-35页 |
| ·FDFD方法 | 第35-39页 |
| ·等效模型法 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第三章 广义散射矩阵求解方法 | 第42-66页 |
| ·GSM/FEM方法推导 | 第42-55页 |
| ·周期性结构 | 第42-44页 |
| ·广义散射矩阵 | 第44-46页 |
| ·不连续性和模式分析 | 第46-51页 |
| ·建立求解模型 | 第51-54页 |
| ·求解本征模态 | 第54-55页 |
| ·数值运算结果验证 | 第55-56页 |
| ·分析影响SIW能量泄漏的参数 | 第56-58页 |
| ·场型验证 | 第58-61页 |
| ·与经典文献中测试结果对比 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-66页 |
| 第四章 模式耦合的空间谐波研究 | 第66-82页 |
| ·SIW的布洛赫空间谐波现象 | 第66-76页 |
| ·模态之间的耦合 | 第66-72页 |
| ·复数模区域产生 | 第72-73页 |
| ·复数模区域特性 | 第73-76页 |
| ·模式耦合对复数模区域影响 | 第76-78页 |
| ·场型验证 | 第78-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第五章 基片集成波导的泄漏特性验证 | 第82-98页 |
| ·使用CMOS工艺实现SIW | 第82-91页 |
| ·CMOS结构建模分析 | 第82-83页 |
| ·馈电网络的选取 | 第83-91页 |
| ·测试结果 | 第91-97页 |
| ·太赫兹测试平台 | 第91-93页 |
| ·去嵌入方法推导 | 第93-94页 |
| ·太赫兹SIW测量与仿真结果对比 | 第94-97页 |
| ·本章小结 | 第97-98页 |
| 第六章 合成传输线泄漏特性研究 | 第98-110页 |
| ·EH_1模态泄漏波天线 | 第98-102页 |
| ·泄漏波天线设计 | 第98-100页 |
| ·泄漏波EH_1模态特性 | 第100页 |
| ·泄漏波天线特性 | 第100-102页 |
| ·基于缺陷地的CRLH-TL泄漏特性研究 | 第102-108页 |
| ·CRLH-TL周期结构单元 | 第102-104页 |
| ·由色散曲线观察CRLH-TL泄漏特性 | 第104-106页 |
| ·由三维场型验证CRLH-TL泄漏特性 | 第106-108页 |
| ·本章小结 | 第108-110页 |
| 第七章 总结与展望 | 第110-112页 |
| ·本文工作总结 | 第110-111页 |
| ·下一步工作展望 | 第111-112页 |
| 参考文献 | 第112-124页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第124-126页 |
| 致谢 | 第126-127页 |
