致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-12页 |
1 引言 | 第12-34页 |
·紫外光电探测器的应用 | 第12-13页 |
·紫外光电探测器的发展状况 | 第13-14页 |
·MgZnO材料的性质和MgZnO紫外光探测器 | 第14-21页 |
·MgZnO材料的性质 | 第14-16页 |
·MgZnO紫外光探测器的研究进展 | 第16-21页 |
·MgZnO紫外光探测器的存在的问题 | 第21页 |
·有机紫外光探测器 | 第21-26页 |
·有机紫外光探测器的原理和结构 | 第21-22页 |
·有机紫外光探测器的研究进展 | 第22-26页 |
·有机紫外光探测器的存在的问题 | 第26页 |
·选题意义和本文的主要研究内容 | 第26-27页 |
·参考文献 | 第27-34页 |
2 MgZnO/NPB紫外光探测器的制备和性能研究 | 第34-50页 |
·引言 | 第34-35页 |
·器件的制备 | 第35-38页 |
·衬底的清洗 | 第35页 |
·Mg_(0.07)Zn_(0.93)O薄膜的生长 | 第35-37页 |
·NPB薄膜的生长 | 第37页 |
·电极的制作 | 第37-38页 |
·实验结果与分析 | 第38-47页 |
·薄膜的吸收光谱 | 第38-40页 |
·器件的Ⅰ-Ⅴ特性 | 第40-43页 |
·器件的光谱响应特性 | 第43-46页 |
·器件的探测率 | 第46-47页 |
·本章小结 | 第47页 |
·参考文献 | 第47-50页 |
3 MgZnO/PVK紫外光探测器的制备和性能研究 | 第50-66页 |
·引言 | 第50-52页 |
·器件的制备 | 第52-53页 |
·实验结果与分析 | 第53-62页 |
·薄膜的吸收光谱 | 第53-54页 |
·Mg_(0.1)Zn_(0.9)O薄膜厚度对于器件性能的影响 | 第54-57页 |
·PVK层厚度对于器件性能的影响 | 第57-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
·参考文献 | 第63-66页 |
4 MgZnO肖特基结紫外光探测器的制备和性能研究 | 第66-82页 |
·引言 | 第66-67页 |
·肖特基结光电探测器的工作原理 | 第67-68页 |
·PEDOT:PSS的光电性能 | 第68-69页 |
·Mg_(0.1)Zn_(0.9)O肖特基探测器的制备 | 第69-78页 |
·本章小结 | 第78页 |
·参考文献 | 第78-82页 |
5 MgZnO/TAPC紫外光探测器的制备和性能研究 | 第82-96页 |
·引言 | 第82-83页 |
·器件的制备 | 第83-85页 |
·实验结果与分析 | 第85-93页 |
·吸收光谱和透射光谱 | 第85-88页 |
·不同结构器件的光电性能 | 第88-93页 |
·本章小结 | 第93页 |
·参考文献 | 第93-96页 |
6 总结 | 第96-98页 |
作者简历 | 第98-102页 |
学位论文数据集 | 第102页 |