| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 1. 绪论 | 第9-13页 |
| ·研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·研究内容、思路与方法 | 第10-13页 |
| ·研究内容 | 第10-11页 |
| ·研究思路与技术路线 | 第11-12页 |
| ·本文的创新和特色 | 第12-13页 |
| 2. 文献综述及分析 | 第13-16页 |
| ·国内对产品寿命检验的验收抽样设计的理论发展及应用现状 | 第13-14页 |
| ·国外对产品寿命检验的验收抽样设计的理论发展及应用现状 | 第14页 |
| ·对国内外验收抽样设计理论发展及应用现状的综合评述 | 第14-16页 |
| 3. 基于EIG分布的验收抽样设计 | 第16-27页 |
| ·EIG分布的理论阐述及统计特性 | 第16-17页 |
| ·验收抽样设计 | 第17-23页 |
| ·最小样本容量 | 第17-19页 |
| ·抽样设计的OC函数 | 第19-20页 |
| ·生产者风险 | 第20-22页 |
| ·近似处理方法 | 第22-23页 |
| ·基于EIG分布的验收抽样设计的结果分析 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 4. 基于log-EIG分布的验收抽样设计 | 第27-40页 |
| ·log-EIG分布的理论阐述及统计特性 | 第27-30页 |
| ·验收抽样设计 | 第30-37页 |
| ·最小样本容量 | 第30-33页 |
| ·抽样设计的OC函数 | 第33-34页 |
| ·生产者风险 | 第34-36页 |
| ·推广和近似 | 第36-37页 |
| ·当位置参数取其他值时的抽样设计 | 第36页 |
| ·近似 | 第36-37页 |
| ·基于log-EIG分布的验收抽样设计的结果分析 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 5. 验收抽样设计的应用举例 | 第40-45页 |
| ·基于log-EIG分布的验收抽样设计应用举例 | 第40-42页 |
| ·数据集介绍及分布应用介绍 | 第40-41页 |
| ·验收抽样设计过程 | 第41-42页 |
| ·基于EIG分布的验收抽样设计应用举例 | 第42-44页 |
| ·数据集介绍及分布应用介绍 | 第42-43页 |
| ·验收抽样设计过程 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 6. 总结与展望 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-50页 |
| 后记 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
