太赫兹干涉成像技术研究
表目录 | 第1-7页 |
图目录 | 第7-10页 |
摘要 | 第10-11页 |
ABSTRACT | 第11-13页 |
第一章 绪论 | 第13-31页 |
·太赫兹简介 | 第13-18页 |
·太赫兹辐射的特性 | 第13-15页 |
·太赫兹技术的应用 | 第15-16页 |
·国内外研究现状 | 第16-18页 |
·太赫兹波的产生与探测 | 第18-24页 |
·脉冲太赫兹的产生与探测 | 第18-23页 |
·连续波太赫兹辐射的产生与探测 | 第23-24页 |
·太赫兹成像技术 | 第24-29页 |
·传统成像方法 | 第25-26页 |
·新型成像方法 | 第26-28页 |
·太赫兹成像面临的挑战 | 第28-29页 |
·本文的主要工作和内容安排 | 第29-31页 |
·本文的主要工作 | 第29页 |
·本文的内容安排 | 第29-31页 |
第二章 太赫兹干涉成像原理与系统方案设计 | 第31-55页 |
·太赫兹干涉成像原理 | 第31-36页 |
·范希特—泽尼克定理 | 第31-34页 |
·太赫兹干涉成像原理 | 第34页 |
·太赫兹干涉成像实现方式 | 第34-36页 |
·太赫兹干涉测量原理 | 第36-44页 |
·实孔径探测元研究 | 第36-40页 |
·相关探测原理 | 第40-44页 |
·空间分辨率与有效视场分析 | 第44-48页 |
·空间分辨率分析 | 第45-47页 |
·有效视场分析 | 第47-48页 |
·太赫兹干涉成像系统方案设计 | 第48-54页 |
·成像体制比较 | 第48-49页 |
·基于波束扫描体制的 THz 干涉成像系统方案 | 第49-51页 |
·关键技术分析 | 第51-54页 |
·小结 | 第54-55页 |
第三章 太赫兹干涉成像关键技术研究与仿真 | 第55-80页 |
·探测阵列参数研究 | 第55-61页 |
·u ,v 覆盖 | 第55-58页 |
·阵列冗余度 | 第58-59页 |
·阵列因子 | 第59-60页 |
·探测阵列设计的原则 | 第60-61页 |
·太赫兹干涉成像仿真模型 | 第61-65页 |
·点目标模型 | 第61-62页 |
·阵列模型 | 第62-65页 |
·太赫兹干涉成像实验仿真与分析 | 第65-73页 |
·仿真条件与评价标准 | 第66页 |
·线阵列仿真实验 | 第66-69页 |
·圆阵列仿真实验 | 第69-73页 |
·近场分析与仿真实验 | 第73-79页 |
·远场条件 | 第73-75页 |
·近场校正方法 | 第75-76页 |
·近场校正仿真实验 | 第76-78页 |
·仿真结果分析 | 第78-79页 |
·小结 | 第79-80页 |
第四章 总结与展望 | 第80-82页 |
·工作总结 | 第80-81页 |
·未来展望 | 第81-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-89页 |
作者在攻读学位期间取得的学术成果 | 第89页 |