基于单片机的连续测斜仪系统设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外测斜仪技术的发展及趋势 | 第11-12页 |
| ·本文的主要内容 | 第12-14页 |
| 第2章 测量参数的定义及数学模型的建立 | 第14-19页 |
| ·测量参数的定义 | 第14-15页 |
| ·测量参数数学模型的建立 | 第15-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第3章 系统硬件电路设计 | 第19-39页 |
| ·系统总体设计方案 | 第19-20页 |
| ·数据采集设计 | 第20-28页 |
| ·信号检测电路设计 | 第20-25页 |
| ·AD 转换电路设计 | 第25-28页 |
| ·单片机控制设计 | 第28-32页 |
| ·DSP 解算设计 | 第32-34页 |
| ·通信接口及电源设计 | 第34-38页 |
| ·通信接口设计 | 第34-36页 |
| ·电源设计 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第39-54页 |
| ·软件系统流程 | 第39-40页 |
| ·下位机软件设计 | 第40-48页 |
| ·单片机软件程序设计 | 第40-46页 |
| ·DSP 软件程序设计 | 第46-48页 |
| ·上位机软件设计 | 第48-53页 |
| ·开发工具的选择 | 第48-49页 |
| ·上位机程序总体设计 | 第49-50页 |
| ·编程实现 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 系统测试 | 第54-58页 |
| ·硬件电路调试 | 第54-55页 |
| ·软件程序调试 | 第55-56页 |
| ·系统测试 | 第56-58页 |
| 第6章 结论 | 第58-59页 |
| ·总结 | 第58页 |
| ·不足与展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文情况 | 第63页 |
