| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-17页 |
| 1.2 本文的研究意义 | 第17-18页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第18-19页 |
| 2 基于新型Schwartz孔径的深穿透共聚焦显微技术 | 第19-37页 |
| 2.1 系统简图 | 第19页 |
| 2.2 实验系统重要组件说明 | 第19-24页 |
| 2.3 新型Schwartz孔径设计理论 | 第24-28页 |
| 2.4 采样频率的设定 | 第28-32页 |
| 2.5 结果分析 | 第32-36页 |
| 2.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 3 基于并行波前优化的深度成像技术 | 第37-64页 |
| 3.1 像差的影响与校正方法 | 第37-39页 |
| 3.2 并行波前优化算法原理 | 第39-41页 |
| 3.3 并行波前优化在显微系统中的应用 | 第41-42页 |
| 3.4 基于并行波前优化的单光子成像方案 | 第42-50页 |
| 3.5 基于并行波前优化的双光子成像方案 | 第50-60页 |
| 3.6 噪声对并行波前优化算法的影响 | 第60-62页 |
| 3.7 本章小结 | 第62-64页 |
| 4 总结与展望 | 第64-66页 |
| 4.1 总结 | 第64-65页 |
| 4.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 附录 | 第71-77页 |
| 作者简历 | 第77页 |