| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| ·项目背景介绍及目的与意义 | 第8-10页 |
| ·光谱成像技术的现状以及进展 | 第10-15页 |
| ·光谱成像仪的种类 | 第10-11页 |
| ·国外超光谱技术的发展形势以及分析 | 第11-14页 |
| ·国内超光谱技术的发展形势以及分析 | 第14-15页 |
| ·基于 AOTF 的光谱成像技术发展形势以及分析 | 第15-18页 |
| ·此次课题的研究方向以及进度安排 | 第18-20页 |
| 第2章 声光可调滤波器的相关原理 | 第20-30页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·声光作用理论基础的研究及分析 | 第20-23页 |
| ·二氧化碲非共线 AOTF 工作的原理 | 第23-27页 |
| ·反常 Bragg 衍射 | 第24-25页 |
| ·切线方向相互平行的动量之间的匹配关系 | 第25-27页 |
| ·非共线型的 AOTF 分光单元的主要参数 | 第27-29页 |
| ·AOTF 的谱线分辨率 | 第27-28页 |
| ·入射光波的极限孔径角 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 二次 TeO_2非共线型 AOTF 元件的设计 | 第30-49页 |
| ·引言 | 第30-31页 |
| ·AOTF 系统成像部分主要部件 | 第31-35页 |
| ·AOTF 系统的成像模块结构 | 第31-32页 |
| ·AOTF 滤波器的相关参数介绍 | 第32-34页 |
| ·成像光学透镜组 | 第34页 |
| ·零级衍射光遮光板 | 第34-35页 |
| ·利用二次滤波法提高光谱分辨率的理论依据 | 第35-37页 |
| ·有关 AOTF 元件成像分辨率的研究 | 第37-39页 |
| ·介质内部的成像分辨率的研究 | 第37-38页 |
| ·介质外部的成像分辨率的研究 | 第38-39页 |
| ·AOTF 成像系统的参数指标的设计 | 第39-47页 |
| ·前端光学系统的设计 | 第40页 |
| ·消除色散的方法设计 | 第40-41页 |
| ·最佳入射角的设计 | 第41-44页 |
| ·超声波角度的设计 | 第44-45页 |
| ·压电转化器件的设计 | 第45-46页 |
| ·射频驱动电路的设计 | 第46-47页 |
| ·AOTF 元件的参数指标设计 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 实验测试及结果分析 | 第49-61页 |
| ·超声频率-光波长关系测量实验 | 第49-53页 |
| ·超声频率-光波长测量的意义 | 第49页 |
| ·超声频率-光波长测量实验的原理 | 第49-50页 |
| ·相关实验器材 | 第50-51页 |
| ·实验步骤及相关参数 | 第51-53页 |
| ·实验结论及分析 | 第53页 |
| ·光谱宽度测量实验 | 第53-56页 |
| ·光谱宽度测量实验的意义 | 第53-54页 |
| ·光谱宽度测量实验原理 | 第54页 |
| ·实验步骤以及相关参数 | 第54-56页 |
| ·实验结论及分析 | 第56页 |
| ·发射光谱测量实验 | 第56-58页 |
| ·发射光谱测量的意义 | 第56页 |
| ·实验步骤以及相关参数 | 第56-58页 |
| ·实验结论及分析 | 第58页 |
| ·反射光谱测量实验 | 第58-60页 |
| ·衍射光强度损耗的测量 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 致谢 | 第67页 |