非制冷红外探测器锗窗口低漏率封接工艺研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题概况 | 第10-12页 |
| ·课题的提出 | 第10-11页 |
| ·非制冷红外探测器封装的特点 | 第11-12页 |
| ·锗窗低漏率封接工艺的研究现状 | 第12-13页 |
| ·本课题研究内容及论文安排 | 第13-14页 |
| 第二章 锗窗口钎焊过程的有限元仿真 | 第14-43页 |
| ·有限元法介绍 | 第14页 |
| ·有限元分析原理 | 第14页 |
| ·有限元分析软件 | 第14页 |
| ·钎焊过程有限元分析理论基础 | 第14-20页 |
| ·钎焊过程的有限单元法 | 第14-18页 |
| ·钎焊过程有限元分析的特点 | 第18页 |
| ·钎焊过程有限元分析的简化 | 第18-20页 |
| ·钎焊过程有限元分析的实践 | 第20-42页 |
| ·创建模型 | 第20-26页 |
| ·载荷施加与求解 | 第26-30页 |
| ·结果及后处理 | 第30-42页 |
| ·有限元分析结果的参考意义 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 锗窗口钎焊封接的工艺研究 | 第43-59页 |
| ·钎焊工艺的理论基础 | 第43-48页 |
| ·钎焊的基本原理 | 第43-44页 |
| ·钎焊工艺技术 | 第44-47页 |
| ·钎焊质量的评价方法 | 第47-48页 |
| ·锗窗钎焊的工艺实践 | 第48-57页 |
| ·设备介绍 | 第48-52页 |
| ·焊料的选取与性质摸底 | 第52-55页 |
| ·锗窗钎焊的工艺流程设计 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第四章 工艺结果的分析与评价 | 第59-72页 |
| ·外观目检和漏率检测方法与结果 | 第59-61页 |
| ·结合部微观分析 | 第61-64页 |
| ·金相切片的制备 | 第61-62页 |
| ·过渡金属镀层的作用 | 第62-63页 |
| ·金属间化合物的形成 | 第63-64页 |
| ·高温老化试验 | 第64-69页 |
| ·180℃的高温老化试验 | 第64-66页 |
| ·250℃的高温老化试验 | 第66-69页 |
| ·锗窗口钎焊工艺结果总结 | 第69-71页 |
| ·缺陷与解决方法 | 第69-70页 |
| ·最优温度曲线 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第五章 结论 | 第72-74页 |
| ·全文总结 | 第72页 |
| ·研究展望 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
