摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-15页 |
第一章 绪论 | 第15-60页 |
·表面等离激元学简介 | 第15-21页 |
·表面等离激元简介 | 第16-19页 |
·表面等离激元的新效应及新应用 | 第19-21页 |
·扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope, STM)简介 | 第21-31页 |
·扫描隧道显微镜的发明及发展 | 第22-23页 |
·扫描隧道显微镜的工作原理及工作模式 | 第23-26页 |
·扫描隧道显微镜理论介绍 | 第26-31页 |
·一维隧穿模型 | 第26-28页 |
·修改的Bardeen 方法 | 第28-30页 |
·Tersoff-Hamann 近似 | 第30-31页 |
·扫描隧道显微镜诱导金属表面等离激元发光理论简介 | 第31-53页 |
·扫描隧道显微镜诱导金属表面等离激元发光原理 | 第32-36页 |
·倒易原理计算辐射功率 | 第36-37页 |
·直接求解Poisson 方程计算辐射功率 | 第37-43页 |
·Rendell 模型 | 第37-40页 |
·Johansson 模型 | 第40-43页 |
·边界元法求解Poisson 方程计算辐射功率 | 第43-48页 |
·扫描隧道显微镜诱导发光理论研究新进展 | 第48-53页 |
·表面荧光分子的隧道扫描显微镜诱导发光研究 | 第53-55页 |
·本论文的研究工作 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
第二章 介质层对隧道扫描显微镜诱导发光的影响 | 第60-95页 |
·研究背景介绍 | 第60-63页 |
·实验结果介绍 | 第60-63页 |
·已有的理论结果及存在的问题 | 第63页 |
·计算方法介绍 | 第63-75页 |
·密度泛函理论计算有效势 | 第64-67页 |
·有介质层时隧穿电流的计算 | 第67-68页 |
·辐射功率的计算 | 第68-69页 |
·电流密度及局域场增益因子的计算 | 第69-74页 |
·量子效率的计算 | 第74-75页 |
·W 针尖/C60/Au(111)体系 | 第75-85页 |
·有效势V_(eff)及针尖与样品之间的距离 | 第75-79页 |
·C_(60)层对辐射功率的影响 | 第79-81页 |
·Au 针尖及Ag 针尖的情况 | 第81-85页 |
·W 针尖/Al_2O_3/NiAl(110)体系 | 第85-92页 |
·有效势Veff及针尖与样品之间的距离 | 第86-89页 |
·Al_2O_3层对辐射功率的影响 | 第89-90页 |
·Au 针尖及Ag 针尖的情况 | 第90-92页 |
·本章小结 | 第92-93页 |
参考文献 | 第93-95页 |
第三章 纳腔等离激元对扫描隧道显微镜诱导分子发光的调控 | 第95-109页 |
·研究背景介绍 | 第95-98页 |
·计算方法介绍 | 第98-102页 |
·有效介质理论 | 第98-101页 |
·独立衰减振子近似 | 第101-102页 |
·计算结果与讨论 | 第102-106页 |
·Ag 针尖/5 层TPP 分子/Au(111)体系 | 第102-105页 |
·W 针尖/5 层TPP 分子/Au(111)体系 | 第105-106页 |
·本章小结与展望 | 第106-108页 |
参考文献 | 第108-109页 |
第四章 二维等离激元光子晶体纳腔场增益的优化 | 第109-130页 |
·研究背景介绍 | 第109-111页 |
·时域有限差分法(FDTD)简介 | 第111-119页 |
·时域有限差分法的基本方程 | 第111-115页 |
·时域有限差分法的数值稳定性 | 第115-117页 |
·吸收边界条件 | 第117-119页 |
·计算模型和方法 | 第119-122页 |
·计算结果和讨论 | 第122-127页 |
·Ag 棒半径对共振模式的影响 | 第122-123页 |
·纳腔场增益的优化 | 第123-125页 |
·归一化辐射功率 | 第125-127页 |
·本章小结 | 第127-128页 |
参考文献 | 第128-130页 |
攻读博士学位期间发表的论文目录 | 第130-131页 |
致谢 | 第131-133页 |