| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·软件缺陷检测 | 第10-11页 |
| ·嵌入式软件缺陷检测 | 第11页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第11-14页 |
| ·论文主要工作 | 第14-15页 |
| ·论文章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 软件缺陷检测方法 | 第16-22页 |
| ·软件缺陷类型和来源 | 第16-18页 |
| ·软件缺陷分析方法 | 第18-21页 |
| ·源代码分析 | 第18页 |
| ·二进制代码分析 | 第18-19页 |
| ·静态分析 | 第19页 |
| ·动态分析 | 第19-20页 |
| ·动静结合式分析 | 第20页 |
| ·动态、静态与动静态结合检测方法比较 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 基于二进制代码嵌入式软件缺陷检测系统初步设计 | 第22-29页 |
| ·基于二进制代码嵌入式软件缺陷检测系统 | 第22-27页 |
| ·嵌入式软件虚拟仿真环境 | 第23-24页 |
| ·二进制代码静态指令分析和缺陷检测 | 第24页 |
| ·基于动态分析方法的二进制代码缺陷检测 | 第24-25页 |
| ·基于动态测试用例生成的二进制代码缺陷检测 | 第25页 |
| ·缺陷检测系统体系结构 | 第25-27页 |
| ·软件缺陷检测流程分析 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 基于 ARM 的二进制代码反汇编实现 | 第29-49页 |
| ·ARM 编码特点 | 第29-36页 |
| ·ARM 指令集概述 | 第29页 |
| ·ARM 指令编码规则分析 | 第29-36页 |
| ·反汇编过程实现 | 第36-47页 |
| ·反汇编主要解决问题 | 第36-38页 |
| ·反汇编算法 | 第38-39页 |
| ·反汇编总体方案 | 第39-43页 |
| ·反编译器前端过程实现 | 第43-46页 |
| ·反汇编实验结果和正确性验证 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第五章 基于 BinNavi 平台的缺陷检测模型 | 第49-61页 |
| ·BinNavi 平台介绍 | 第49-50页 |
| ·软件缺陷静态检测方法 | 第50-54页 |
| ·反汇编模块 | 第50-51页 |
| ·数据流分析 | 第51页 |
| ·函数调用 | 第51-52页 |
| ·控制流分析 | 第52-53页 |
| ·静态分析缺陷模型 | 第53-54页 |
| ·基于 BinNavi 平台的静态缺陷检测模型原型系统 | 第54-56页 |
| ·缺陷检测实例 | 第56-60页 |
| ·越界非法访问缺陷静态检测的主要算法思想 | 第57-59页 |
| ·实验验证与分析 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 总结 | 第61-63页 |
| ·本文工作总结 | 第61页 |
| ·下一步工作展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 附录 | 第67页 |