TD-LTE基带芯片验证系统信号完整性研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题的研究背景及意义 | 第8-10页 |
| ·课题的国内外研究现状 | 第10-11页 |
| ·论文的主要内容及章节安排 | 第11-12页 |
| 2 TD-LTE基带芯片验证平台 | 第12-20页 |
| ·TD-LTE基带芯片基本架构 | 第12-13页 |
| ·TD-LTE基带芯片验证平台介绍 | 第13-19页 |
| ·验证平台设计需求分析 | 第13-14页 |
| ·主要功能模块介绍 | 第14-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 高速PCB的信号完整性分析 | 第20-49页 |
| ·信号完整性概述 | 第20页 |
| ·信号完整性基本原理及研究方法 | 第20-38页 |
| ·传输线及其特性阻抗 | 第20-22页 |
| ·趋肤效应 | 第22-24页 |
| ·信号反射 | 第24-35页 |
| ·信号间串扰 | 第35-38页 |
| ·IBIS模型 | 第38-48页 |
| ·IBIS模型的提出及发展 | 第41-42页 |
| ·IBIS模型的构成 | 第42-47页 |
| ·IBIS模型的验证及应用 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 4 验证平台的信号完整性仿真 | 第49-65页 |
| ·仿真前的准备 | 第49-51页 |
| ·高速信号走线的仿真分析 | 第51-64页 |
| ·单板SI仿真研究 | 第51-59页 |
| ·板间SI仿真研究 | 第59-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 5 总结与展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
