油基泥浆微电阻率扫描成像方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·研究的背景和意义 | 第10-12页 |
| ·微电阻率扫描测井方法及其发展概述 | 第12-13页 |
| ·油基泥浆微电阻率扫描测井特点分析 | 第13-14页 |
| ·本文主要研究内容和贡献 | 第14-15页 |
| ·本文的组织结构 | 第15-17页 |
| 第二章 油基泥浆微电阻率扫描测井理论基础 | 第17-30页 |
| ·油基泥浆电成像测井仪器的工作原理 | 第17-18页 |
| ·油基泥浆电成像测井仪器简图 | 第18-20页 |
| ·油基泥浆微电阻率扫描测井电磁建模 | 第20-23页 |
| ·电容耦合法原理 | 第23-24页 |
| ·四点测量法 | 第24-27页 |
| ·电容耦合法校正 | 第25页 |
| ·双频测量方法校正原理 | 第25-27页 |
| ·裂缝宽度的评价 | 第27-28页 |
| ·测井响应正演成像原理 | 第28-30页 |
| 第三章 电容耦合法模型仿真分析 | 第30-55页 |
| ·电流分布 | 第30-31页 |
| ·探测性能的考察 | 第31-33页 |
| ·不同地层电阻率时的响应变化分析 | 第31-32页 |
| ·分辨率的考察 | 第32页 |
| ·探测深度的考察 | 第32-33页 |
| ·改变仪器参数考察仪器的性能 | 第33-43页 |
| ·改变加电压的位置 | 第33-36页 |
| ·改变钮扣电极长度 | 第36-37页 |
| ·改变仪器频率 | 第37-38页 |
| ·改变聚焦电极上的电压 | 第38-39页 |
| ·改变聚焦电极高度 | 第39-40页 |
| ·改变回路电极尺寸 | 第40-41页 |
| ·改变回路电极位置 | 第41-43页 |
| ·改变地层参数时的考察 | 第43-48页 |
| ·改变泥浆介电常数 | 第43-44页 |
| ·改变泥浆电阻率 | 第44-46页 |
| ·改变油膜厚度 | 第46-47页 |
| ·改变地层电阻率 | 第47页 |
| ·改变侵入参数 | 第47-48页 |
| ·仪器频率的进一步优化 | 第48-50页 |
| ·测井响应正演成像 | 第50-53页 |
| ·水平地层成像 | 第50-51页 |
| ·第一类倾斜地层 | 第51-52页 |
| ·第二类倾斜地层 | 第52-53页 |
| ·地层中目标体的识别 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第四章 极板加源模型仿真分析 | 第55-61页 |
| ·考察电流密度分布 | 第55-56页 |
| ·改变仪器结构考察其对地层电阻率的敏感度 | 第56页 |
| ·探测深度的考察 | 第56-57页 |
| ·分辨率的考察 | 第57-58页 |
| ·频率的考察 | 第58-60页 |
| ·聚焦电极加不同的电压 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 无回路电极模型仿真分析 | 第61-65页 |
| ·仪器响应随地层电阻率的变化 | 第61-62页 |
| ·分辨率的考察 | 第62页 |
| ·探测深度的考察 | 第62-63页 |
| ·改变聚焦电极高度 | 第63页 |
| ·改变钮扣电极高度 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 数据校正及裂缝宽度考察 | 第65-74页 |
| ·裂缝宽度的考察 | 第65-69页 |
| ·地层油膜对比度与电流奇异性之间关系 | 第65-66页 |
| ·底层裂缝宽度与电流奇异性之间的关系 | 第66-69页 |
| ·油基泥浆电阻率双频校正方法 | 第69-74页 |
| ·0.5mm油膜厚度不同频率下考察 | 第69-70页 |
| ·2.0mm油膜厚度不同频率下考察 | 第70-71页 |
| ·5.0mm油膜厚度不同频率下考察 | 第71-74页 |
| 第七章 仪器的创新设计 | 第74-78页 |
| ·创新仪器结构一 | 第74-76页 |
| ·创新仪器结构二 | 第76-78页 |
| 第八章 结束语 | 第78-80页 |
| ·本文工作总结及一些讨论 | 第78-79页 |
| ·下一步工作计划及展望 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
